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飞纳 清洁度分析 ParticleX TC
- 品牌：飞纳电镜
- 型号： ParticleX TC
- 产地：荷兰
- 供应商报价： 面议
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复纳科学仪器（上海）有限公司
更新时间：2024-04-18 15:53:35 -
企业性质生产商
入驻年限第5年
营业执照已审核
- 同类产品扫描电镜(12件)
联系方式：杨西子400-857-8882
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- 飞纳 清洁度分析 ParticleX TC 核心参数
- 详细介绍
Phenom ParticleX TC
飞纳 Phenom ParticleX 全自动清洁度分析系统 以台式扫描电镜和能谱仪为硬件基础，可以全自动对颗粒或杂质进行快速识别、分析和分类统计，为客户的研发以及生产提供快速、准确和可靠的定量数据支持。该过程完全符合 ISO 16232 和 VDA 19 要求。
传统的清洁度分析方法（重量法和光镜法）只能提供清洁部件上大颗粒灰尘和碎片的总体重量或形状信息，而不能全面分辨颗粒的污染源。Phenom ParticleX 取代传统颗粒物清洁度检测方法，允许工程师看见微米尺寸的颗粒并确定其化学成分，从而判断出污染源。
借助 Phenom ParticleX 全自动清洁度分析系统，只需一键，即可自动分析 4 片直径 47mm 的滤膜，并且自动生成报告，更有效率地监控过程清洁度。
规格参数
光学放大 3 - 16 X 电子光学放大 80 - 200,000 X 分辨率 优于 10 nm 数字放大 Max. 12 X 光学导航相机 彩色 加速电压 4.8 Kv - 20.5 Kv 连续可调 真空模式 高分辨率模式
降低核电效应模式
高真空模式
探测器 背散射电子探测器 二次电子探测器 (选配)
样品尺寸 最大 100 mm X 100 mm 可同时装载 36 个 0.5 英寸样品台
样品高度 zui高 65 mm，样品高度全自动调节 - 产品优势
- 飞纳 Phenom ParticleX 全自动清洁度分析系统 以台式扫描电镜和能谱仪为硬件基础，可以全自动对颗粒或杂质进行快速识别、分析和分类统计，为客户的研发以及生产提供快速、准确和可靠的定量数据支持。
- 产品文章
- 解决方案
| 电子枪: | 六硼化铈 |
