Phenom GSR 枪击残留物分析
在枪支犯罪事件中，枪击残留物 GSR 的分析将发挥重要的作用。GSR 分析技术首先基于扫描电子显微镜 （SEM） 的背散射成像，用来扫描样品和发现可疑的 “GSR” 颗粒。一旦发现可疑的颗粒，使用能谱（EDS）识别在该粒子中的元素。最常见的搜索元素为 Pb，Sb 和 Ba。无铅dihuo的检测，例如 Ti 和 Zn 也可最为搜索条件进行搜索。
Phenom GSR 飞纳台式扫描电镜自动枪击残留物分析是全球shou创在台式扫描电镜运行自动枪击残留物分析软件。其设计基于飞纳台式扫描电镜大样品室zhuo越版 Phenom XL。软件和硬件完全一体化，以提高用户操作界面友好性，可靠性和分析速度。Phenom GSR 包括以下三个项目：自动枪击残留物分析和分类软件包，BSED 和 EDS 探头内部集成，校准试样。
Phenom GSR 飞纳台式扫描电镜自动枪击残留物分析配备 CeB6 灯丝，使其稳定运行，灯丝寿命不低于 1500 个小时，从可用性，适用性和运行时间的角度来看都非常理想。小于 1 分钟的加载时间，和快速的全自动马达样品台，使得飞纳 GSR 成为高度自动化应用的理想工具，可以用来进行自动枪击残留物分析。
Phenom GSR 规格参数
| 光学放大 | 3 - 16 X |
| 电子光学放大 | 80 - 200,000 X |
| 分辨率 | 优于 10 nm |
| 数字放大 | Max. 12 X |
| 光学导航相机 | 彩色 |
| 加速电压 | 4.8 Kv - 20.5 Kv 连续可调 |
| 真空模式 | 高分辨率模式 降低核电效应模式 高真空模式 |
| 探测器 | 背散射电子探测器 二次电子探测器 (选配) |
| 样品尺寸 | zui大 100 mm X 100 mm 可同时装载 36 个 0.5 英寸样品台 |
| 样品高度 | zui高 65 mm，样品高度全自动调节 |
报价：面议
已咨询3152次CeB6灯丝扫描电镜
报价：面议
已咨询3664次全自动清洁度分析
报价：￥457
已咨询142次Sigma-Aldrich西格玛试剂标物
报价：面议
已咨询5474次CeB6灯丝扫描电镜
报价：面议
已咨询3720次场发射扫描电镜
报价：￥839
已咨询158次Sigma-Aldrich西格玛试剂标物
报价：￥839
已咨询169次Sigma-Aldrich西格玛试剂标物
报价：￥639
已咨询141次Sigma-Aldrich西格玛试剂标物
GAIA 超分辨率点重扫共聚焦显微镜是 Confocal.nl 推出的旗舰超分辨率共聚焦模块，得益于专利的 REscan（重扫描技术），GAIA 超分辨率点重扫共聚焦显微镜仅需几纳瓦的功率即可实现超越衍射极限的深度成像。 1. 超分辨率成像：得益于专利的 REscan 技术，GAIA 超分辨率的实时分辨率可达 170 nm，解卷积后可达 120 nm。 2. 可变针孔：搭配 6 个电动可变针孔，使得设备在各种物镜下均可达到完美共焦 3. 成像温和：仅需几纳瓦的功率即可实现超越衍射极限的深度成像，成像温和，适合长时间活细胞超分辨率成像。
1. 深层成像：无针孔串扰现象，更适合于深度成像，最高可达 900 μm 2. 超快成像：采用狭缝针孔的线性扫描，拥有媲美转盘式共聚焦的扫描速度（>100 fps @ 3Kx3K） 3. 超大视场：远高于传统共聚焦的视场大小，最大支持 FN29 4. 可变针孔：唯一拥有 6 个电动可变针孔的高速共聚焦系统，针孔在各种物镜下均可达到完美共焦 5. 低光毒性：更低的光毒性和光损伤，适合长时间的活体成像
NL5+ 深层高速线重扫共聚焦显微镜是 Confocal NL 推出的首款线重扫共聚焦模块，采用狭缝针孔和 REscan（重扫描技术），拥有媲美转盘式共聚焦的扫描速度，且图片质量更好，成像深度更深，适用于高速、深层的 3D 成像，并显著降低光毒性和光漂白。 1. 深层成像：无针孔串扰现象，更适合于深度成像 2. 超快成像：75 fps@2048x512 px，55 fps@2048x2048 px 3. 低光毒性：更低的光毒性和光损伤，适合长时间的活体成像
ICSPI REDUX 原子力显微镜是一款基于芯片化技术（AFM-on-a-chip）的台式纳米表征设备，集高自动化、快速扫描与易操作性于一体。系统无需复杂光学调节与激光对准，即可实现亚纳米级分辨率的三维形貌成像与定量分析，广泛适用于材料科学、半导体、生命科学及教学实验等场景。
nGauge AFM 是由 ICSPI 开发的一款芯片式原子力显微镜（Atomic Force Microscope, AFM）。该系统基于专利 CMOS-MEMS 技术，将传统 AFM 的扫描器、传感器和执行机构全部集成在一块微型 MEMS 芯片上，实现了真正的小型化、自动化和便捷化的纳米级测量解决方案。
ParticleX Battery 锂电清洁度分析系统是一款面向锂离子电池材料与制造环节的全自动清洁度检测设备。系统基于 SEM 与 EDS 技术，可自动识别并定量分析正负极材料中的金属、磁性杂质颗粒，帮助精准溯源杂质来源，降低安全与一致性风险。系统支持无人值守运行，采用 3000 小时长寿命 CeB6 晶体灯丝与高通量设计，兼顾效率与稳定性，并已与锂电龙头企业共建清洁度检测方法与评价标准，支持上下游统一对标与质量控制。
Phenom Pure 标准版是一款专为高分辨率成像设计的智能台式扫描电镜，采用独家 CeB₆ 长寿命灯丝，分辨率优于 10 nm，具备 15 秒抽真空、30 秒成像的行业领先速度。设备支持升级至 Phenom Pro/ProX，可扩展至二次电子探测和能谱分析。凭借自动化硬件平台、直觉式操作界面、防震防磁设计与极低的安装要求，任何人都可在 30 分钟内上手使用。Phenom Pure 以高成像质量、极致易用性和卓越稳定性，成为科研、教学及工业质控中最佳性价比的台式扫描电镜选择。
为质控与研发打造的自动化台式扫描电镜 Phenom XL G3 是 Thermo Scientific 旗下的旗舰级台式扫描电镜平台，基于飞利浦—FEI—赛默飞近 80 年电镜技术积淀打造。其稳定可靠、易部署、自动化程度高，专为 生产质控、高通量检测与研发场景 而设计。 大仓室设计，可容纳 36 个样品，1 分钟完成装样到出图，自动化、AI 分析、能谱一体化，3000h CeB6 灯丝，平均 5 年更换一次，适用于金属、电子陶瓷、半导体、粉末、滤膜、电池材料等多行业。
营业执照已审核
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