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ICSPI REDUX 原子力显微镜|台式AFM|纳米级3D形貌分析系统

面议 (具体成交价以合同协议为准)
icspi REDUX 美洲 加拿大 2026-04-23 15:29:46
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产品特点:

ICSPI REDUX 原子力显微镜是一款基于芯片化技术(AFM-on-a-chip)的台式纳米表征设备,集高自动化、快速扫描与易操作性于一体。系统无需复杂光学调节与激光对准,即可实现亚纳米级分辨率的三维形貌成像与定量分析,广泛适用于材料科学、半导体、生命科学及教学实验等场景。

产品详情:

一、产品名称

ICSPI REDUX 原子力显微镜|台式AFM|纳米级3D形貌分析系统


二、产品概述

ICSPI REDUX 原子力显微镜是一款基于芯片化技术(AFM-on-a-chip)的台式纳米表征设备,集高自动化、快速扫描与易操作性于一体。系统无需复杂光学调节与激光对准,即可实现亚纳米级分辨率的三维形貌成像与定量分析,广泛适用于材料科学、半导体、生命科学及教学实验等场景。

该设备通过高度集成的MEMS传感器与自动化扫描流程,大幅降低操作门槛,实现“3步完成纳米成像”的高效工作模式。


三、产品特点

1. 超高自动化,降低使用门槛

  • 自动配置、自动接近、自动扫描
  • 无需激光对准,减少人工干预
  • 3次点击即可完成扫描流程
  • 2. 快速获取纳米级数据
  • 最快约3分钟获取完整数据
  • 常规扫描时间约1分钟级
  • 支持高通量样品检测
  • 3. 芯片式AFM技术(AFM-on-a-chip)
  • 集成XYZ扫描与传感系统于1 mm²芯片
  • 基于MEMS压阻传感器,无需复杂光路
  • 稳定性高,维护成本低
  • 4. 电动平台+光学导航系统
  • 电动XY及Z轴平台,精准定位
  • 集成光学显微镜,实现快速区域选择
  • 提升操作效率与重复性
  • 5. 长寿命AFM探针(芯片)
  • 单芯片可使用超过1000次扫描
  • 无明显性能衰减
  • 显著降低耗材成本

四、功能与应用核心功能

  • 三维形貌成像(3D Topography)
  • 表面粗糙度分析(Ra/Rq等)
  • 薄膜厚度及台阶高度测量
  • 纳米颗粒尺寸与分布分析
  • 相位成像(材料成分差异分析)典型应用领域
  • 半导体与微电子(薄膜、晶圆检测)
  • 新材料与纳米材料研究
  • 生物样品表面形貌分析
  • 教学与科研实验室
  • 工业质量控制与失效分析

五、技术优势(对比传统AFM/SEM)


项目REDUX AFM传统AFMSEM
操作难度极低(自动化)
成像环境空气中即可需复杂调节真空
数据获取时间~3分钟≥1小时≥1小时
样品适应性非导电样品可测部分受限需导电
培训时间极短数天-数周数天
成本

六、技术参数扫描性能

  • 最大扫描范围:20 μm × 20 μm
  • 最小扫描范围:300 nm × 300 nm
  • 垂直范围:20 μm
  • 本底噪声:< 0.5 nm rms扫描速度
  • 快速扫描(128 px):约16 s
  • 常规扫描(256 px):约80 s
  • 高分辨率(512 px):约5 min
  • 最大分辨率:1024 × 1024样品规格
  • 最大样品尺寸:125 mm × 95 mm
  • 最大样品高度:20 mm
  • 最大承重:250 g定位系统
  • 电动XY平台范围:12 mm × 12 mm光学系统
  • 物镜:10×,NA 0.25
  • 视野:1.4 mm × 0.8 mm
  • 分辨率:1920 × 1080设备参数
  • 尺寸:232 × 220 × 246 mm
  • 重量:约4 kg
  • 通信接口:USB
  • 操作系统:Windows 10/11

七、产品优势总结

ICSPI REDUX 原子力显微镜通过芯片级AFM技术与高度自动化设计,实现了纳米级表征设备从“专家工具”向“通用工具”的转变。其在操作便捷性、数据获取效率及综合成本控制方面表现突出,是当前台式原子力显微镜领域中兼具性能与易用性的代表产品之一。


八、适用客户群体

  • 高校科研实验室
  • 半导体与材料研发企业
  • 第三方检测机构
  • 教学与培训中心

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