ChemiSEM 彩色成像技术

飞纳电镜推出的 ChemiSEM 技术，将 SEM 形貌观察与 EDS 成分分析相结合，让工作流程更加流畅，简化了许多材料（包括金属、陶瓷、电池、涂层、水泥和软物质材料等）的分析流程：通过彩色元素分布图与 SEM 图像的实时叠加，在成像同时提供高质量的成分定性定量信息。

实时分析获取更深层的信息 所有的 SEM-EDS 分析本质上都是复杂的，对于产品故障分析和污染物识别等应用，研发 需要不断改进质量控制（QC）和故障分析（FA）流程，以更好地解决出现的问题。 ChemiSEM 技术的实时分析在质量控制和生产效率提升方面提供了独特的优势。它的 EDS 集成在仪器中，并在电镜工作时始终在后台收集成分数据，逐步建立样品更全面和详 细的信息，帮助您更快地定位到关键质量问题。实时定量面扫：不再有

实时定量面扫：不再有分析干扰 传统的元素分析中，复杂样品元素分布和相分布面扫并不能及时得到精确的结果。例 如，一个峰的信号有时会被识别为两个元素，产生错误，干扰样品QC 问题的判断。 凭借创新的算法和智能光谱拟合，ChemiSEM 技术可以帮助您的实验室团队实现准确的 元素识别和量化—— 即使在处理多个重叠元素时也是如此。

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ChemiSEM 定量面扫：ChemiSEM 技术自动处理原始信号，生成定量面扫结果。数据被很好地解析，能够有效避免和 峰和重叠峰的影响。并且使用算法同时处理 BSE（背散射电子）和 EDS 信号，从而可以实时显示样品的形态和 元素定量结果。

无偏差相分析 传统的相分析高度依赖于对样品的假设，当存在谱峰重叠或强度不足而遗漏了元素时， 这可能会是一个问题。 有了 ChemiPhase（ChemiSEM 技术中的一项新功能）后，可以避免这种情况。复杂样 品的分析能够做到完全无偏差，可以基于数据单元中所有光谱结果，系统地识别每个独 立的相。随后，数据分析可以在没有任何元素预定义的情况下自动运行，无需丰富经验 即可定位次要/微量元素，明确识别主要和次要成分，完成更深入、更全面的分析。

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使用 ChemiPhase 对地质切片的分析，每个相的能谱成分被自动提取和计算，可以将不同矿物相有效区分。

自动样品漂移校正 成分分析过程中，准确和有效的定量结果需要一个正确且稳定的样品位置信息。 通常在图像漂移的情况下，研究人员需要多次重新获取分析数据，或者等待样品停止漂 移后再获取数据，这两种方式都会降低测试效率。 通过不断监控样品位置，ChemiSEM 软件提供自动样品漂移校正，使高倍率操作和较长 时间的能谱采集成为可能。帮助大家节省宝贵的时间和精力，专注于更重要的事情：尽 快获取高质量的数据。