Phenom MAPS 大面积图像拼接
ChemiSEM 彩色成像技术
飞纳电镜全景拼图【新品】
适用金属和矿物研究—飞纳电镜ChemiPhase物相分析软件
自动硅藻检验 DiatomScopeTM
适用金属和矿物研究—飞纳电镜ChemiPhase物相分析软件
更容易,更全面,更准确的物相分析
对于金属合金和矿物分析领域的研究人员来说,物相分析 非常重要,物相分析通常可以借助扫描电镜背散射电子信 号成像(BSE)和能谱(EDS 成分分析)来进行判定。 扫描电镜背散射电子成像(BSE)信号强度随原子量而变 化,可以通过成分衬度寻找异质材料。但是,如果材料具 有相似的原子量或材料的化学性质过于复杂,则 BSE 对比 度可能会很差,从而导致不完整的表征结果,甚至可能出 现错误结论
ChemiPhase 物相分析软件可帮助我们轻松找到问题答案,并且给出 以下信息:成分是什么,它是如何分布的,以及每个相有多少。 飞纳电镜 ChemiPhase 物相分析软件是 ChemiSEM 技术中一种新型物相鉴定和定量表征手段, 旨在通过结合先进的统计分析和 ChemiSEM SEM-EDS 平台来识别独特的物相,并识别成分列出 其面积分数,从而应对这些挑战
什么是 ChemiPhase 物相分析软件
飞纳电镜 ChemiSEM 软件使用大数据方法来采集样品的立体数据,自动统计出具有统计意义的 物相。然后,飞纳电镜 ChemiPhase 物相分析软件为每个像素提供一个简单的概率,指示它归 属于哪个相。因为每个像素只能属于一个相,这使得复杂样品的解释更加直接并且直观。值得注 意的是,飞纳电镜 ChemiPhase 物相分析软件是一个全面、准确的统计软件,可以解决传统方 法的难题。传统方法如果遗漏了元素(即,由于重叠的峰或强度不足),可能会产生错误的结 果。此外,传统的物相测定高度依赖于对样品的假设,而 ChemiPhase 物相分析软件可确保所 有用户都能获得相同的结果,即使是具有挑战性的样品也是如此。
ChemiPhase 物相分析软件优势软件优势 不到一分钟的时间内完成大多数采集,即使是复杂的相图也是如此 全自动运行,无需事先识别元素 明确识别主要和次要组件,精确到单个像素 无需丰富的用户体验即可定位微量和微量元素 提供完整而全面的分析 定位峰重叠会掩盖重要元素的独特组分 可以使用非常少的 X 射线数据开始相位测定,每个像素低至 10 个计数。
报价:面议
已咨询3721次场发射扫描电镜
报价:面议
已咨询5478次CeB6灯丝扫描电镜
报价:面议
已咨询4664次CeB6灯丝扫描电镜
报价:面议
已咨询6769次CeB6灯丝扫描电镜
报价:面议
已咨询563次电镜智能软件
报价:面议
已咨询578次电镜智能软件
报价:面议
已咨询3441次色谱数据系统
报价:面议
已咨询535次冷冻电镜 (Cryo-EM)
GAIA 超分辨率点重扫共聚焦显微镜是 Confocal.nl 推出的旗舰超分辨率共聚焦模块,得益于专利的 REscan(重扫描技术),GAIA 超分辨率点重扫共聚焦显微镜仅需几纳瓦的功率即可实现超越衍射极限的深度成像。 1. 超分辨率成像:得益于专利的 REscan 技术,GAIA 超分辨率的实时分辨率可达 170 nm,解卷积后可达 120 nm。 2. 可变针孔:搭配 6 个电动可变针孔,使得设备在各种物镜下均可达到完美共焦 3. 成像温和:仅需几纳瓦的功率即可实现超越衍射极限的深度成像,成像温和,适合长时间活细胞超分辨率成像。
1. 深层成像:无针孔串扰现象,更适合于深度成像,最高可达 900 μm 2. 超快成像:采用狭缝针孔的线性扫描,拥有媲美转盘式共聚焦的扫描速度(>100 fps @ 3Kx3K) 3. 超大视场:远高于传统共聚焦的视场大小,最大支持 FN29 4. 可变针孔:唯一拥有 6 个电动可变针孔的高速共聚焦系统,针孔在各种物镜下均可达到完美共焦 5. 低光毒性:更低的光毒性和光损伤,适合长时间的活体成像
NL5+ 深层高速线重扫共聚焦显微镜是 Confocal NL 推出的首款线重扫共聚焦模块,采用狭缝针孔和 REscan(重扫描技术),拥有媲美转盘式共聚焦的扫描速度,且图片质量更好,成像深度更深,适用于高速、深层的 3D 成像,并显著降低光毒性和光漂白。 1. 深层成像:无针孔串扰现象,更适合于深度成像 2. 超快成像:75 fps@2048x512 px,55 fps@2048x2048 px 3. 低光毒性:更低的光毒性和光损伤,适合长时间的活体成像
ICSPI REDUX 原子力显微镜是一款基于芯片化技术(AFM-on-a-chip)的台式纳米表征设备,集高自动化、快速扫描与易操作性于一体。系统无需复杂光学调节与激光对准,即可实现亚纳米级分辨率的三维形貌成像与定量分析,广泛适用于材料科学、半导体、生命科学及教学实验等场景。
nGauge AFM 是由 ICSPI 开发的一款芯片式原子力显微镜(Atomic Force Microscope, AFM)。该系统基于专利 CMOS-MEMS 技术,将传统 AFM 的扫描器、传感器和执行机构全部集成在一块微型 MEMS 芯片上,实现了真正的小型化、自动化和便捷化的纳米级测量解决方案。
ParticleX Battery 锂电清洁度分析系统是一款面向锂离子电池材料与制造环节的全自动清洁度检测设备。系统基于 SEM 与 EDS 技术,可自动识别并定量分析正负极材料中的金属、磁性杂质颗粒,帮助精准溯源杂质来源,降低安全与一致性风险。系统支持无人值守运行,采用 3000 小时长寿命 CeB6 晶体灯丝与高通量设计,兼顾效率与稳定性,并已与锂电龙头企业共建清洁度检测方法与评价标准,支持上下游统一对标与质量控制。
Phenom Pure 标准版是一款专为高分辨率成像设计的智能台式扫描电镜,采用独家 CeB₆ 长寿命灯丝,分辨率优于 10 nm,具备 15 秒抽真空、30 秒成像的行业领先速度。设备支持升级至 Phenom Pro/ProX,可扩展至二次电子探测和能谱分析。凭借自动化硬件平台、直觉式操作界面、防震防磁设计与极低的安装要求,任何人都可在 30 分钟内上手使用。Phenom Pure 以高成像质量、极致易用性和卓越稳定性,成为科研、教学及工业质控中最佳性价比的台式扫描电镜选择。
为质控与研发打造的自动化台式扫描电镜 Phenom XL G3 是 Thermo Scientific 旗下的旗舰级台式扫描电镜平台,基于飞利浦—FEI—赛默飞近 80 年电镜技术积淀打造。其稳定可靠、易部署、自动化程度高,专为 生产质控、高通量检测与研发场景 而设计。 大仓室设计,可容纳 36 个样品,1 分钟完成装样到出图,自动化、AI 分析、能谱一体化,3000h CeB6 灯丝,平均 5 年更换一次,适用于金属、电子陶瓷、半导体、粉末、滤膜、电池材料等多行业。