应兰州大学化学化工学院吴剑峰老师邀请，PHI CHINA开展的“X射线光电子能谱之准原位/原位分析的研究应用ZT”讲座在8月13日顺利结束了。X射线光电子能谱是利用X射线激发样品，探测样品表面出射光电子，来获得样品表面组成和化学态信息的分析技术。鞠焕鑫博士从XPSZ核心的激发源X射线、研究对象和探测信息三个方面，系统地讲解了XPSZ.新的发展和应用：
基于高能量X-ray的XPS的发展，不仅实现了无损深度分析，也为原位实验提供更多可能性；
近常压XPS的发展及其在固-气界面和固-液界面的原位研究；
小束斑的X-ray为不均匀样品和微区样品XPS分析提供了可能；
XPS和外场环境(高温高压、电压和光照等)的结合，实现原位工况条件下测试；
原位全面电子结构信息的探测，深入探索半导体样品特性。
下面是本次讲座的PPT要点，快来与小助手一起回顾一下吧~
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PHI 与高德
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