如果您从事电子元件分析工作,您熟悉将会面临的诸多挑战。无论您是识别金属颗粒还是检查产品真伪,快速、轻松地获取正确的信息都很重要。
在本次网络研讨会中,Konstantin Kartaschew 博士将解释如何使用化学微量分析仪 LIBS 系统获取有关微结构化学成分组成的信息。
学习要点
零部件清洁度:如何快速、轻松、可靠地识别导电颗粒
腐蚀或污染:如何检查多层材料的系统功能
铍元素检测:如何在 X 射线系统出现故障时可靠地检测铍
正品还是假货:如何通过筛选焊料类型来辨别真假
激光诱导击穿光谱 – 它是什么以及您的工作将如何受益
观看点播
点击查看完整视频回放
相关产品
徕卡DM6 M LIBS
徕卡显微咨询电话:400-630-7761
关于
全部评论(0条)
徕卡冷冻断裂系统 Leica EM ACE900
报价:面议 已咨询 2727次
徕卡真空冷冻传输系统 Leica EM VCT500
报价:面议 已咨询 3249次
徕卡高压冷冻仪 Leica EM ICE
报价:面议 已咨询 2848次
徕卡冷冻光电联用 Leica EM Cryo CLEM
报价:面议 已咨询 3566次
徕卡高分辨率共聚焦显微镜 Leica TCS SPE
报价:面议 已咨询 2974次
德国徕卡 激光显微切割 LMD7
报价:面议 已咨询 4979次
徕卡国产 正置智能型显微镜 DM6 FS
报价:面议 已咨询 2421次
徕卡国产 生命科学正置显微镜 Leica DM6 B
报价:面议 已咨询 2632次
①本文由仪器网入驻的作者或注册的会员撰写并发布,观点仅代表作者本人,不代表仪器网立场。若内容侵犯到您的合法权益,请及时告诉,我们立即通知作者,并马上删除。
②凡本网注明"来源:仪器网"的所有作品,版权均属于仪器网,转载时须经本网同意,并请注明仪器网(www.yiqi.com)。
③本网转载并注明来源的作品,目的在于传递更多信息,并不代表本网赞同其观点或证实其内容的真实性,不承担此类作品侵权行为的直接责任及连带责任。其他媒体、网站或个人从本网转载时,必须保留本网注明的作品来源,并自负版权等法律责任。
④若本站内容侵犯到您的合法权益,请及时告诉,我们马上修改或删除。邮箱:hezou_yiqi
参与评论
登录后参与评论