您是否苦于难以从镀层测厚仪中获取可靠有用的数据？
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据统计，平均 72% 的镀层分析时间浪费在 XRF 仪器设置中。从选择设置和确定样品分析位置，到处理和导出数据以做出决策，XRF 分析过程可能既耗时又令人懊恼。
因此，是时候做出改变了。
4月28日，我们将翻开XRF镀层分析的新篇章，快准备好冲破您和您的数据之间的障碍，把业务驶向快车道。 在这次全 球线上新品发布会中，我们的团队将向您展示:
如何借助日立的新技术，更快地完成每一次镀层分析
如何将您的分析数据更快付诸实践
XRF的未来，还能如何更加智能至简
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