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日本KETT LW-990膜厚计测试台

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仪器详情

日本KETT LW-990膜厚计测试台人工测量误差减小,对测量管状物很有效。


日本KETT LW-990膜厚计测试台产品简介:

LW-990是通过将膜厚计探针或厚度计的升降部的整体式膜厚计安装于LW-990中,由于膜厚度测量仪的测里开始与测童对象接触--恒定的力和角度,人工测量误差减小,并且可以以高的重复精度测量来执行。如要测量的管状物,这是特别有效的。探针的膜厚计型,和支持双式膜厚计的LZ-990相对应。




仪器参数
我们会努力按照原厂技术参数翻译编辑,如技术参数中英文有差异,以英文参数为准。

日本KETT LW-990膜厚计测试台技术参数:

尺寸重量:150 (W) X210 (D) X280 (H) mm、2. 5kg

对应传感器:

探头类型:LEP和LHP- 20/20C/30/30C/ J

机身整体式:LZ-990



仪器配件

日本KETT LW-990膜厚计测试台附件:

螺丝,电缆夹,探头支架(黑色和白色),探针,博尔特,轴支架,内六角扳手,使用说明书

LZ-990使用例子

探针型的使用例子



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