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S-MRS系列漫反射率测试系统
- 品牌：上海波铭
- 型号： S-MRS
- 产地：上海 浦东新区
- 供应商报价：面议
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上海波铭科学仪器有限公司
更新时间：2025-03-06 12:24:27 -
销售范围售全国
入驻年限第5年
营业执照已审核
- 同类产品漫反射率测试系统 (1件)
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产品特点
- • 光谱测量范围：350-2500nm ;光谱分辨率：2nm以下；光谱扫描步距：0.2-100nm可连续设置
• 波长准确度：优于±0.2nm（紫外-可见区），优于±0.5nm；（近红外区）
• 光度测量准确度：1%以内（紫外-可见区），2%以内；（近红外区）
• 光度测量重复性：1% (450nm-1800nm) ；测试试样尺寸(典型)：直径大于15mm，若同时测试透过率，则样品厚度必须小于5mm 详细介绍
• 光谱测量范围：350-2500nm ;光谱分辨率：2nm以下；光谱扫描步距：0.2-100nm可连续设置
• 波长准确度：优于±0.2nm（紫外-可见区），优于±0.5nm；（近红外区）
• 光度测量准确度：1%以内（紫外-可见区），2%以内；（近红外区）
• 光度测量重复性：1% (450nm-1800nm) ；测试试样尺寸(典型)：直径大于15mm，若同时测试透过率，则样品厚度必须小于5mm
沪公网安备 31011502008050号