「Keithley 4200半导体特性分析系统」价格、参数、图片

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• 使用 4200A加快半导体设备、材料和工艺开发的探索、可靠性和故障分析研究。 ZG性能参数分析仪，提供同步电流-电压 (I-V)、电容-电压 (C-V) 和超快脉冲 I-V 测量。

• 内置测量视频采用英语、中文、日语和韩语

• 使用数百个用户可修改应用测试开始您的测试

• 自动实时参数提取、数据绘图、算数函数

• 多通道切换模块自动在 I-V 和 C-V 测量之间切换无需重新布线即可将 C-V 测量移动到任何设备终端

• 用户可配置低电流功能，个性化输出通道名称，查看实时测试状态

• NBTI/PBTI 测试，随机电报噪声，非易失内存设备，稳压器应用测试

型号	说明
4200A-SCS-PK1	210V/100mA，0.1 fA 分辨率，对于两端和三端设备，MOSFET、CMOS 检定套件4200A-SCS-PK1 包括：
高分辨率 IV 套件	• 4200A-SCS 参数分析仪
	• 4200-SMU 模块
	• 4200-PA 前置放大器
	• 8101-PIV 测试夹具与采样设备
4200A-SCS-PK2	210V/100mA，0.1 fA 分辨率，1kHz - 10MHz，对于高 K 电解质，深亚微米 CMOS 检定套件4200A-SCS-PK2
高分辨率 IV 和 CV 套件	包括：
	• 4200A-SCS 参数分析仪
	• 4200-SMU 模块
	• 4200-PA 前置放大器
	• 4210-CVU 电容-电压模块
	• 8101-PIV 测试夹具与采样设备
4200A-SCS-PK3	210V/1A，0.1 fA 分辨率，1kHz - 10MHz，对于功率设备、高 K 电解质，深亚微米 CMOS 设备检定套件
高分辨率和高功率 IV 和 CV 套件	4200A-SCS-PK3 包括：
	• 4200A-SCS 参数分析仪
	• 4200-SMU 模块
	• 4210-SMU
	• 4200-PA 前置放大器
	• 4210-CVU 电容-电压模块
	• 8101-PIV 测试夹具与采样设备
4200-BTI-A	用于使用JD CMOS 技术套件进行复杂的 NBTI 和 PBTI 测量4200-BTI-A 包括：
超快 NBTI/PBTI 套件	• 4225-PMU 超快 I-V 模块
	• 4225-RPM 远程前置放大器/开关模块
	• 自动化检定套件 (ACS) 软件
	• 超快 BTI 测试项目模块
	• 电缆

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Klar Mini Pro显微镜是一款小巧、高性价比的显微光谱和光电流模块。空间分辨率极高，专门为需要对材料的微区研究有着严苛要求的的科研人员设计。 Mini Pro通过将激光聚焦在样品上，然后由光谱仪收集所发出的光（荧光或拉曼），可对生成荧光和拉曼的Mapping图谱。Z方向可实现自动对焦。分析软件能迅速确定每个光谱的峰值能量和强度。获得分辨率和对比度都非常出色的Mapping图像。; 针孔PH005

光经过显微物镜会聚后，光斑直径往往达到微米级，远小于可调光阑的孔径，此时需要用更小的孔径进行空间滤波，即针孔光阑。微米级的小孔无法做成连续可调式，故针孔光阑的尺寸是固定的。针孔光阑的外径为 8mm, 厚度 0.1mm, 其小孔采用激光掩模技术加工而成，一致性较好。; 遮光板BBP300 /BBP205/BBP200 黑色亚光/白色亚光

BBP 系列遮光板用于光学实验中遮挡激光的杂散光，另外也可用于干涉仪或者纹影仪用的屏幕。; 转接螺钉; 磁性底座

磁性底座适用于单独固定在光学平台等磁性材质的台面上。通过手柄的 ON/OFF 切换，可以简单的进行装卸，不受安装螺纹孔的位置限制，可以固定在任意位置。