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Keithley 4200半导体特性分析系统
- 品牌:上海波铭
- 型号: Keithley 4200半导体特性分析系统
- 产地:浦东新区
- 供应商报价: 面议
- 上海波铭科学仪器有限公司 更新时间:2024-04-24 08:18:03
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企业性质一般经销商
入驻年限第4年
营业执照已审核
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联系方式:吕志杰021-61052039
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- 详细介绍
• 使用 4200A加快半导体设备、材料和工艺开发的探索、可靠性和故障分析 研究。 ZG性能参数分析仪,提供同步电流-电压 (I-V)、电容-电压 (C-V) 和超快脉冲 I-V 测量。
• 内置测量视频采用英语、中文、日语和韩语
• 使用数百个用户可修改应用测试开始您的测试
• 自动实时参数提取、数据绘图、算数函数
• 多通道切换模块自动在 I-V 和 C-V 测量之间切换无需重新布线即可将 C-V 测量移动到任何设备终端
• 用户可配置低电流功能,个性化输出通道名称,查看实时测试状态
• NBTI/PBTI 测试,随机电报噪声,非易失内存设备,稳压器应用测试
型号
说明
4200A-SCS-PK1
210V/100mA,0.1 fA 分辨率,对于两端和三端设备,MOSFET、CMOS 检定套件4200A-SCS-PK1 包括:
高分辨率 IV 套件
• 4200A-SCS 参数分析仪
• 4200-SMU 模块
• 4200-PA 前置放大器
• 8101-PIV 测试夹具与采样设备
4200A-SCS-PK2
210V/100mA,0.1 fA 分辨率,1kHz - 10MHz,对于高 K 电解质,深亚微米 CMOS 检定套件4200A-SCS-PK2
高分辨率 IV 和 CV 套件
包括:
• 4200A-SCS 参数分析仪
• 4200-SMU 模块
• 4200-PA 前置放大器
• 4210-CVU 电容-电压模块
• 8101-PIV 测试夹具与采样设备
4200A-SCS-PK3
210V/1A,0.1 fA 分辨率,1kHz - 10MHz,对于功率设备、高 K 电解质,深亚微米 CMOS 设备检定套件
高分辨率和高功率 IV 和 CV 套件
4200A-SCS-PK3 包括:
• 4200A-SCS 参数分析仪
• 4200-SMU 模块
• 4210-SMU
• 4200-PA 前置放大器
• 4210-CVU 电容-电压模块
• 8101-PIV 测试夹具与采样设备
4200-BTI-A
用于使用JD CMOS 技术套件进行复杂的 NBTI 和 PBTI 测量4200-BTI-A 包括:
超快 NBTI/PBTI 套件
• 4225-PMU 超快 I-V 模块
• 4225-RPM 远程前置放大器/开关模块
• 自动化检定套件 (ACS) 软件
• 超快 BTI 测试项目模块
• 电缆