吉时利 Keithley 4200A-SCS 半导体特性分析系统

吉时利 Keithley 4200A-SCS 半导体特性分析系统

使用 4200A-SCS 加快半导体设备、材料和工艺开发的探索、可靠性和故障分析研究。 zui高性能参数分析仪，提供同步电流-电压 (I-V)、电容-电压 (C-V) 和超快脉冲 I-V 测量。

Keithley 4200A-SCS 参数分析仪 概述

Keithley 4200A-SCS 参数分析仪

参数查看，快速清晰。

大胆发现从未如此容易。 4200A-SCS 参数分析仪可将检定和测试设置的复杂程度降低高达 50%，提供清晰且不折不扣的测量和分析功能。 另外，嵌入式测量专业知识（业界shou创）可提供测试指南并让您对结果充满信心。

特点

内置测量视频采用英语、中文、日语和韩语

使用数百个用户可修改应用测试开始您的测试

自动实时参数提取、数据绘图、算数函数

Keithley 4200A-SCS 参数分析仪

测量、 切换、 重复。

4200A-CVIV 多通道切换模块自动在 I-V 和 C-V 测量之间切换，无需重新布线或抬起探头端部。 与竞争产品不同，四通道 4200A-CVIV 显示器提供本地可视查看，可快速完成测试设置，并在出现意想不到的结果时轻松排除故障。

特点

无需重新布线即可将 C-V 测量移动到任何设备终端

用户可配置低电流功能

个性化输出通道名称

查看实时测试状态

Keithley 4200A-SCS 参数分析仪

检定、 自定义、 zui大化。

简单地说，4200A-SCS 可以完全自定义且全面升级，您可以对半导体设备、新材料、有源/无源组件、晶片级可靠性、故障分析、电化学或几乎任何类型的样本执行电气检定和评估。

特点

NBTI/PBTI 测试

随机电报噪声

非易失内存设备

稳压器应用测试