求购二手WPA-200相位差测试仪

该测试仪采用了先进的光子晶体技术，能够对相位差（光程差）进行精确测量。其基本原理是利用光的干涉现象，通过对不同光路中光的相位变化进行检测和分析，得出相位差的信息。这种技术可以有效地测量出材料或光学元件中由于应力、折射率变化等因素引起的相位差。

测量速度快：操作简单，测量速度可以快到 3 秒，能够快速获取测量结果，提高工作效率。

测量范围广：采用 CCD camera，视野范围内可一次测量，可满足多种样品的测量需求。其测量范围通常为 0 - 3500nm（可拓展至 10000nm），对于大部分光学材料和元件的相位差测量都能很好地适用。

数据可视化：测量数据以二维分布图像的形式呈现，可以更直观地读取数据，方便用户对测量结果进行分析和理解。

分析功能多样：具有多种分析功能，例如可以对测量结果进行点、线、面、3D 的分析，帮助用户更全面地了解样品的相位差分布情况。

维护简单：不含旋转光学滤片的机构，减少了仪器的维护成本和维护难度，提高了仪器的稳定性和可靠性。

光学零件检测：可用于镜片、薄膜、导光板等光学零件的相位差测量，对于光学零件的质量控制和性能评估具有重要意义。例如，在镜片生产过程中，可以通过测量相位差来检测镜片的双折射情况，从而判断镜片的成像性能是否符合要求。

透明成型品检测：适用于车载透明零件、食用品容器等透明成型品的检测，可以检测这些产品在生产过程中由于应力等因素引起的相位差变化，保证产品的质量和安全性。

透明树脂材料研究：对于 PET、PVA、COP、ACRYL 等透明树脂材料的研究和开发具有重要作用，可以帮助研究人员了解这些材料的光学性能和应力分布情况，为材料的改进和优化提供依据。

透明基板检测：可用于玻璃、石英、蓝宝石、单结晶钻石等透明基板的检测，对于这些基板在电子、光学等领域的应用具有重要意义。例如，在半导体制造过程中，可以通过测量透明基板的相位差来检测基板的平整度和应力分布情况，从而保证半导体器件的性能和可靠性。

有机材料研究：对于球晶、fish eye 等有机材料的研究也具有一定的应用价值，可以帮助研究人员了解这些材料的结构和性能，为有机材料的应用和开发提供参考。

测量波长：一般为 523nm、543nm、575nm 等多个波长，用户可以根据实际需求选择合适的测量波长。

像素数：例如 384×288（≒11 万）pixels，较高的像素数可以保证测量数据的准确性和分辨率。

测量精度：测量重复精度通常小于 1nm（西格玛），具有较高的测量精度，能够满足大多数科研和工业应用的需求。

重量和尺寸：重量一般为 13kg 或 23kg，尺寸根据不同型号有所差异，例如 270×340×560mm 或 430×490×910mm，便于实验室和生产现场的使用和安装