隔膜气密性测试系统：型号：Huace-5001
一、隔膜气密性测试系统产品简介：
华测隔膜气密性测试系统，纵向位测试，直接搭配现有的气密性测试设备使用，成卷膜透气性测试，测试间隔可任意设置。
二、隔膜气密性测试系统仪器参数：
速度：0-10m/min
控制方式：PLC
长度步进：＞1cm
暂停时间：可设置
样品幅宽：＜300mm
卷芯直径：3寸
通讯方式：RS232
试验结果：长度-气密性，以EXCEL形式导出
试验长度：＞3000m
报价：面议
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报价：面议
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表面电位衰减测试系统（评估介质材料表面电荷动态衰减行为及陷阱能级分布） 表面电位衰减测试系统是一款面向材料电学特性研究的高精度、多功能分析设备，专为评估介质材料表面电荷动态衰减行为及陷阱能级分布而设计
织物摩擦带电电荷量测试仪，主要用于测试防静电服的带电电荷量,设备主要由法拉第筒、静电电位计和滚筒摩擦机组成。备注:静电电位计通常也被称为静电电量表主要用于显示防静电服及防静电面料等纺织品的电荷量。
将防静电服放入滚筒摩擦机后，经过滚简摩擦机摩擦 15min 后的防静电服投入法拉第筒内，通过静电电位计测量防静电服的带电电荷量。
HCHV-2000 是一款风冷高压脉冲发生器。该设备针对高阻抗容性负载进行了优化，非常适合用于驱动提取栅极和偏转板，以实现飞行时间质谱仪和加速器中粒子束的静电调制。
测量电容器在不同温度下的关键参数（如电容量（C）、损耗因子（D）和阻抗（Z）等参数值），从而评估其温度特性。该系统通常具有高精度、高稳定性和高可靠性的特点，能够适用于各种类。
绝缘电阻劣化（离子迁移）评估系统是一种试验设备，它通过在印刷电路板上施加固定的直流电压，并经过长时间的测试（1~1000小时可按需定制），观察线路是否有瞬间短路的现象发生，并记录电阻值的变化状况。
绝缘电阻劣化（离子迁移）评估系统,评估绝缘材料的劣化程度和离子迁移现象.
半导体封装材料R-T测试，测试类型： R-T ，C-V， I-V，R-I，Cp-D,ε测试，搭配仪器：源表、高阻计、直流低电阻测试仪、阻抗分析仪、半导体参数分析仪。
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