电弱点测试仪
GB/T 13542-2009《电气用塑料薄膜试验方法》
IEC 60674-2:1988《电气用塑料薄膜标准要求设计的高压试验装置》
华测生产的电弱点测试仪经过严酷的实践验证,稳定可靠,目前广泛应用于电气绝缘材料的电弱点性能测试
HCRD-200型电弱点测试仪采用计算机控制,通过人机对话方式,FWT-800电弱点测试仪 本产品是根据IEC 60674-2:2009 电气用塑料薄膜 第2部分:试验方法及其第1次修正(2001)和 GB/T13542-92《电气用塑料薄膜试验方法》而设计的高压试验装置。主要用于电容器用聚脂薄膜、聚丙稀薄膜的电弱点测试。该系列产品的主要特点是能根据薄膜的使用宽度进行电弱点的测试,测试宽度可根据用户的要求而设定,无须将膜分切成小卷,免除了许多外来因素对测试结果的影响。测试数据能真实地反映薄膜的质量水平。该系列产品的主要元器件均选用进口品牌(如欧姆龙,美信,ABB等),有效地保证了设备的可靠性、耐用性和稳定性。测量准确,复现性好。测试过程采用电子技术全自动控制,遇到电弱点时电压切断动作迅速。击穿电流在0~40mA连续可调,复现性好。本机具备多重保护功能,充分考虑了操作人员及设备的安全性。如过压、过流、接地保护,试验平台门开启保护。
符合标准
GB/T 13542-2009《电气用塑料薄膜试验方法》
IEC 60674-2:1988《电气用塑料薄膜标准要求设计的高压试验装置》
更多安全防护
TVS瞬间yi制防护技术:
电弱点测试仪大都采用的光耦隔离方式,但光耦与隔离无非是提高仪器的采集的抗干扰处理,对于电弧放电过程中的浪涌对控制系统的防护起不到任何作用。华测独立开发的TVS瞬间yi制防护技术,将起到对控制系统的防护。
低通滤波电流监测技术:
高压压放电过程中将产生高频信号。而无论是国产与进口电流采集传感器,大都为工频电流传感器。而采集过程中无法将高频信号处理时,从而造成检测不准确。无论是采用磁通门或霍尔原理所设计的传感器存在材料产生弱点后后瞬间输出电压或电流信号过大,从而烧坏控制系统的采集部分。华测开发的低滤波电流采集传感器将高频杂波信号进行相应处理。同时华测自主开发的保护模块来保证采集精度与保护采集元件.
双系统互锁技术及隔离屏蔽技术:
国内采用双系统互锁技术应用于电弱点测试仪器,华测生产的电弱点测试仪器不仅具备过压、过流保护系统,它独有的双系统互锁机制,当任何元器件出现问题或单系统出现故障时,将瞬间切断高压。技术,将起到对控制系统的防护。
仪器参数
电压范围: 0~5000V (AC、DC) 保护电流:40mA
电压精度:±1% 电流精度::±1%
试样宽度: 60mm~650mm(可调) 高压防护:TVS
移动速度:3-10m/min 连续可调(伺服驱动) 数据传输:2个USB接口
控制系统:嵌入式工控机 控制方式:触摸屏
设备功率:1kW 升压方式:SPWM
仪器尺寸:220 mm x 230 mm x 70 mm 供电方式:220V(50HZ)
报价:面议
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表面电位衰减测试系统(评估介质材料表面电荷动态衰减行为及陷阱能级分布) 表面电位衰减测试系统是一款面向材料电学特性研究的高精度、多功能分析设备,专为评估介质材料表面电荷动态衰减行为及陷阱能级分布而设计
织物摩擦带电电荷量测试仪,主要用于测试防静电服的带电电荷量,设备主要由法拉第筒、静电电位计和滚筒摩擦机组成。备注:静电电位计通常也被称为静电电量表主要用于显示防静电服及防静电面料等纺织品的电荷量。
将防静电服放入滚筒摩擦机后,经过滚简摩擦机摩擦 15min 后的防静电服投入法拉第筒内,通过静电电位计测量防静电服的带电电荷量。
HCHV-2000 是一款风冷高压脉冲发生器。该设备针对高阻抗容性负载进行了优化,非常适合用于驱动提取栅极和偏转板,以实现飞行时间质谱仪和加速器中粒子束的静电调制。
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半导体封装材料R-T测试,测试类型: R-T ,C-V, I-V,R-I,Cp-D,ε测试,搭配仪器:源表、高阻计、直流低电阻测试仪、阻抗分析仪、半导体参数分析仪。