TEK370B泰克晶体管测试仪
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Tektronix 370A 晶体管测试仪 回收
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泰克图示仪TEK370B晶体管测试仪
TEKTRONIX371A
主要参数:·半导体器件高精度测量
-上限达2000V或电流到10A的源(370A)
-上限到3000V(371A)
-上限到220W(370A)
-上限到400A(371A)
-1nA的测量分辨率
-上限到3000W(371A)
·上限到2mV的测量分辨率(370A)
·波形对比
·包络显示
·波形平均
·点光标(370A)
·Kelvin传感测量
·全程控
·MS-DOS兼容的软盘,方便设置参孝存储和调用
应用
手动或自动进行半导体高分辨率DC参数测量
来料检查
生产测试
过程监视及质量控制
数据报告的生成
元件配对
失效分析
工程测试
交互式程
所有交互式程控测量是通过有鲜明特点的前面板或GPIB来完成的。使用几种存储方式,调整和存储操作参数,包括370A的非
易失存储器、内置的MS-DOS兼容的软盘或到外部控制器。
测试夹具
测试夹具是标准附件,它提供被测器件安全防护,以保护测量人员的安全。测试夹具适应标准的A1001,中间通过Kelvin传
感的A1005适配器、无Kelvin传感的3芯适配器和A1023、A1024表面封装适配器。
370A程控特性曲线图示仪
370A是著名的高分辨率特性曲线图示仪,可应用到许多场合。370A能完成晶体管、闸流管、二极管、可控硅、场效应管
、光电元件、太阳能电池、固态显示和其它半导体器件的直流参数特性的测试。
在研发实验室,用370A来完成新器件、SPIEC参数的提取、失败分析和产生数据报告这些具体的测试工作
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已咨询34次晶体管测试仪
报价:¥1000000
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FSV40信号分析仪 产品性能: FSV40频率范围高达 3.6 GHz、7 GHz、13.6 GHz、30 GHz 或 40 GHz - 40 MHz 分析带宽 - 7 GHz 以下电平测量不确定度仅有 0.4 dB 罗德与施瓦茨FSV40回收|FSV40长期收购 FSV40硬盘可以拆卸,以确保数据安全。 - 利用 R&S?FSV30 或 R&S?FSV40、R&S?FSV-B21 选件和R&S?FS-Z60/-Z75/-Z90/-Z110 谐波混频器可使频率范围扩大到110 GHz 操作简单直接(触摸屏、热键)闲置FSV40收购|个人处理FSV40高价收购 - 可适用
N5235B 主要特性和功能 对无源元器件和简单的有源器件执行基本分析 适用于对成本非常敏感的应用,可以在高达 50 GHz 的频率范围内精确测量 S 参数 具有出色的性价比,可用于微波器件制造测试 可以配置经济型解决方案,用于信号完整性测量和材料表征 多点触控屏和直观的用户界面加速对元器件特性的分析
艾法斯Aeroflex3920B数字无线电台综合测试仪 用于模拟系统、TETRA 及P25 技术的新型 3920 数字射频综合测试仪具有全新的增强特性,可为专业测试人员提供集成化的更多测试功能,便捷的远程遥控操作以及功能强大的文件管理功能。Aeroflex 3900 系列的新一代产品3920 将取代原有的 3901 及 3902 射频测试仪。在具备更多新特性与新功能的同时,3920 仍可支持先前3901 及 3902 所能够执行的全部测试功能,其中包括 TETRA 移动台、基站及直通模式测试。 3920可选装的三位半数字万用表能够测量交流与直流电压、电流及电阻。使用前面板端
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美国吉时利2420/Keithley2420数字源表 2420-C型带接触检测的大电流数字源表功率为60W,能够提供和测量从±5µV(源)和±1µV(测量) 到±60V的电压,以及从±100pA到±3A的电流。2420的生产测试应用包括必须在较高电流情况下进行测试的电阻和电阻网络、热敏电阻、
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Keithley2182A 双通道吉时利2182A(Keithley 2182A)纳伏表用于需要稳定、低噪声电压和温度测量的应用。是可靠地、重复地表征低阻材料和器件特性的仪表,并且比其他的低电压测量方案能提供更快的测量速度及更好的噪声性能。 吉时利2182A(Keithley 2182A)