日本电子 JSM-IT200钨灯丝扫描电子显微镜 SEM

性能参数

• 分辨率：高真空模式下，30kV 时二次电子分辨率为 3nm，20kV 时为 4nm，3kV 时为 8nm，1kV 时为 15nm；低真空模式下，30kV 时二次电子分辨率为 4nm，20kV 时背散射电子分辨率为 5nm。

• 放大倍数：5 倍至 30 万倍。

• 加速电压：0.5kV 至 30kV 连续可调。

• 样品台：采用五轴马达驱动全对中样品台，X 轴行程为 80mm（电动），Y 轴行程为 40mm（电动），Z 轴行程为 5mm-48mm，旋转角度为 360°（连续），倾斜角度范围未明确提及。

• 探测器：标配多段背散射电子探测器（BSED），可选低真空二次电子探测器（LV-SED）。

仪器特点

• 操作简便jeolbenelux.com：具备样品交换导航功能，从样品加载到区域搜索和 SEM 图像观察提供引导操作。“Zero mag” 功能可实现从光学图像到 SEM 图像的无缝过渡。

• 分析功能强大jeol.de：嵌入 JEOL 的 EDS 系统，具有实时分析功能，包括光谱映射、多点分析、自动漂移补偿、线扫描和映射过滤等功能。

• 成像模式多样：支持高真空和低真空模式，低真空模式可用于观察非导电样品，无需长时间的样品制备，还具备电荷自由扫描（CF 扫描）系统，可减少非导电样品上的电荷积累。

• 数据管理便捷：配备 Smile View™Lab 数据管理系统，可实现从图像采集到分析报告的一站式管理，能创建批量报告、查看数据并重新分析数据。

应用领域：可用于材料科学、固体化学等领域，通过二次电子和背散射电子成像观察材料的表面形貌和成分信息，配合 EDS 系统还可进行元素分析。

JSM-IT200 是一款简单易用的扫描电镜，具有 InTouchScopeTM 的 JSM-IT500（高端型号）的高性价比功能，而且吞吐量显著提高。 

试样交换导航（Specimen Exchange Navi）是一种便于初学者使用的功能，可提供从试样装载到区域搜索和 SEM 图像观察的指导性操作。"Zeromag "可实现从光学成像到扫描电镜成像的无缝转换，"Live Analysis "*2可实时显示元素分析结果，SMILE VIEW（TM）实验室，可无缝生成观察和/或分析结果报告等，通过从 OM 到 SEM 的集成转换提供快速分析。 

快速观察、分析和生成报告！ JEOL InTouchScope™ 系列是一种高性能分析工具，具有三大功能。  

样品交换导航：从样品引入到观察的指导操作  

逐步指导样品交换、条件设置和自动成像。  

快速观察！"Zeromag  

您可以通过主屏幕上显示的 Holder Graphics 或光学 CCD 图像*1 定位试样区域或指定分析位置。  

快速分析！"实时分析 "*2  

观察过程中会显示测量区域的特征 X 射线光谱和主要组成元素。 

快速生成报告！SMILE VIEW™ 实验室：集成数据管理  

单击数据管理按钮可显示数据管理屏幕，让您生成所有图像和分析数据的报告，以及审查或重新分析已获取的数据。