KKJ-100 天津天河 空气颗粒计数器 (半导体/电子/新能源/材料科学等领域)
SKJ-W 天津天河 液体颗粒计数器 (半导体/电子/新能源/材料科学等领域)
SKJ-D 天津天河 液体颗粒计数器 (半导体/电子/新能源/材料科学等领域)
ZKJ 天津天河 智能在线颗粒监测系统 (半导体/电子/新能源等领域)
ZKJ 天津天河 智能在线颗粒监测系统 (半导体/电子/新能源等领域)
性能特点:
♦大屏幕彩色触摸屏操作,中文输入,操作简便快捷,功能强大。可同时显示多通道测试数据
♦采用高性能激光光源及光能量补偿电路,保证各种无色、有色澄明样品的测试精度
♦采用高精高压注射泵取样系统,可根据测试的样品品种和样品粘度设定进样体积和进样速度,进样精度高,满足高粘度检品的检测要求
♦进样狭缝及管路采用进口316L及PTFE 材料,可直接检测有机溶剂,油基质等特殊溶液
♦可任意设置通道,精度可达0.01 μm, 具有累计数值及差分数值等多种计数方式,满足不同领域的微粒检测要求
♦内置多条校准曲线,满足ISO21501等多个标准对仪器的校正与检定的要求,可自动进行粒径和进样体积的校准,确保取样体积、颗粒计数、传感器分辨率的准确性,从而保证仪器测试准确性
♦磁力搅拌,转速可调,避免测试过程中粒子沉降,提高数据的准确性
♦RS232和USB接口,可外接计算机存储检测结果,方便数据分类检索
♦可选配扫描枪,自动识别样品编号,提高效率仪器可连接有线及无线网络,实现数据多方式传输
♦具有数据自动处理、打印功能
♦满足GMP计算机系统的验证,可接入实验室操作平台进行网络化管理
♦可选配审计功能,接入审计软件
♦可自定义设置近万种粒径
技术参数:
♦通道设置:64个粒径通道,精度0.1μm
♦粒径范围:1~500 μm(分段选择)
♦计数范围:0~9999999粒
♦进样体积:0.2~1000mL(精度0.1mL)
♦进样体积误差:≤±3%(0.2 mL~1000mL)
♦进样速度:5~80mL/min,任意设置
♦计数准确度:<规定值±10%
♦通道分辨率:≥90%
♦相对标准偏差:RSD≤2%(标准粒子≥1000粒/mL)
♦极限检测浓度:0~18000粒/mL
♦搅拌速度:0~1000转/min(分段可调)
♦工作温度:10~40℃
♦电源:AC 220V;50/60 Hz;≤80W
♦数据输出:彩色大屏幕液晶触摸显示屏;内置针式微型打印机;USB存储接口及RS232接口可接计算机,具有WIFI和LAN接口
报价:面议
已咨询149次半导体/电子/新能源领域
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已咨询425次半导体/电子/新能源领域
报价:面议
已咨询397次半导体/电子/新能源领域
报价:面议
已咨询169次半导体/电子/新能源领域
1、全自动校准 2、检品自动测试 3、可连WIFI 4、完全满足《中国药典》 5、可选审计追踪
1、完全满足《中国药典》 2、Windows操作系统 3、可远程查看数据 4、全自动校准
该仪器是一款高精度颗粒计数器,提供准确可靠的颗粒物检测。具备耐用稳定性激光光源和探测器,可连续工作。具备累计/差分计数模式,支持U盘及网络数据传输。8通道检测,最大采样浓度100000粒/升。7寸ips屏操作,外置传感器布置,方便部署。
该仪器是一款高性能颗粒计数器,采用进口材料和先进设计,支持多种弱酸碱溶液检测,具备自动升降功能。配备高精度传感器和处理器,计数范围广且准确度高,支持多级权限管理和数据审计追踪,符合计算机化系统要求。采用Windows系统,具备数据存储与统计分析功能,操作简便,检测结果精准可靠。
该仪器是一款高性能颗粒计数器,采用进口材料和先进设计,支持多种弱酸碱溶液检测,具备自动升降功能。配备高精度传感器和处理器,计数范围广且准确度高,支持多级权限管理和数据审计追踪,符合计算机化系统要求。支持USB和RS232接口,具备数据存储与统计分析功能,操作简便,检测结果精准可靠。
ZKJ智能在线颗粒监测系统可监测洁净空间、生产线、设备等关键区域的洁净程度,并对环境中颗粒的粒径尺寸和数量进行自动、连续的测量和记录,实现对环境的实时监控。可根据不同要求制定特制方案,硬件素质源于近40年对颗粒检测的深耕细作,软件功能对标进口产品。软硬件从研发、施工、落地到售后一体式服务,提升部署效率,便捷省心,为洁净环境监测保驾护航。
BM-2A颗粒计数器是一款具有自主知识产权的专门用于表面颗粒检测的智能型仪器。密闭的取样器设计,可直接检测物体表面微粒,排除外部因素干扰,保证检测结果真实准确。先进的激光检测原理,能同时分析微粒的粒径大小及数量。操作简单、检测快捷,主要用于材料对于颗粒脱落的检测
BM-A表面颗粒检测计数器是一款具有自主知识产权的专门用于表面颗粒检测的智能型仪器。自由取样器设计,可直接检测物体表面微粒,排除外部因素干扰,保证检测结果真实准确。先进的激光检测原理,能同时分析微粒的粒径大小及数量。操作简单、检测快捷,主要用于材料对于表面颗粒的检测,例如元器件表面,洁净台面等表面的微粒污染情况,从而提高产品质量和可靠性。