奥林巴斯BX53M行业应用案例

在金属材料检测领域，奥林巴斯BX53M能够清晰呈现金属材料的表面形貌和组织结构。例如，在观察球墨铸铁时，BX53M的不同观察方式能够呈现不同的样貌。在明场观察下，可以看到平面紫色花纹图案；而在微分干涉显微镜观察技术下，能够检测到明场所不能检测的标本高度差，呈现浮雕状三维图像，改善图像的衬度。

在半导体行业，BX53M的荧光检测功能能够检测光刻胶残留。在荧光检测下，光刻胶残留呈现为亮斑；而使用带暗场的MIX观察技术后，能够同时观察光刻胶残留和IC图形。这是因为MIX技术通过专用滤色片激发块照明，使标本能发出荧光，适合检测半导体晶圆上的异物、光刻胶残留以及通过荧光染料检测裂纹等。

在地质勘测行业，BX53M能够进行复杂的地质样本分析，提供卓yue的检测图像。设备的模块化设计和人性化操作界面，使地质勘测工作更加灵活简单，提高检测效率和结果的准确性。