用于光谱实验的光学低温恒温器-OptistatDry TLEX
用于光谱实验的光学低温恒温器-OptistatDry BLV
用于光谱实验的光学低温恒温器-OptistatCF-X
用于光谱实验的光学低温恒温器-OptistatCF-V
光学低温恒温器-OptistatDN-X
OptistatCF-V
• 液氦连续流制冷,样品处于真空中
• 样品空间:30 x 58 mm
• 适用样品:固体、颗粒、粉末
• 温度范围:3.2 K 至 500 K(低温可扩展至 2.2 K)
• 温度稳定性:± 0.1 K
• 系统降温时间:降至 4.2 K,约10分钟
• 4.2 K温度下液氦消耗率:< 0.45 L/hr
• 降温过程消耗:1.3 L(标称值)
• 兼容液氮运行模式:温度范围 77 K 至 500 K
• 光路中窗口数量极少,有效降低反射损耗
• 优异的光学接入能力 (f/0.9),满足高集光效率测量需求
• 配置支持:反射与透射测量
• 大光斑照明:窗口通光孔径直径 23 mm
• 配备可拆卸辐射屏蔽窗,以最大化透射光强度
• 样品更换时间:约 60 分钟(支持在低温状态下更换样品)
应用案例
• 紫外/可见光光谱:低温下的紫外或可见光光谱实验可以揭示固体中电子能级与振模的相互作用
• 远红外光谱:低温红外光谱实验可测量原子间振动模式的变化及其他现象,例如超导体中转变温度以下的能隙
• 拉曼光谱:低温可以使拉曼激发中的谱线更细
• 光致发光:低温下光谱性质将更为清晰,可以获得更多的信息
报价:面议
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报价:面议
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兼容TeslatronPT VTl的3He插件,变温范围300 mK到300K,@350mK制冷功率为50 μW,样品空间直径43 mm,样品置于真空环境。
• 氦循环制冷低温恒温器,样品处于真空环境中 • 样品空间:20 mm × 5 mm (真空环境) • 温度范围:3.4 K ~ 500 K (低温可扩展至 2.7 K) • 温度稳定性:± 0.1 K • 系统降温时间:< 15 分钟 (至 3.2 K)
• 氦循环制冷低温恒温器,样品处于真空环境中 • 样品空间:20 mm × 5 mm (真空) • 温度范围:3.2 K ~ 500 K (低温可扩展至 2.2 K) • 温度稳定性:± 0.1 K • 系统降温时间:< 10 分钟 (至 3.2 K) • 液氦消耗率:< 0.45 L/hr
• 恒温器类型:液氮恒温器(LN2) • 样品空间:20 mm × 2 mm • 适用样品:固体、粉末及颗粒 • 温度范围:77 K 至 500 K • 温度稳定性:± 0.5 K
Microstat系列低温恒温器给用户提供了各类光路设计和光学性能特点的低温样品环境。制冷方式为真空冷媒冷却,可根据温度需求选择液氮或者液氦制冷,温度范围从低于2.2K至500K。
在多数情况下,为确认不同参数之间的相关性,样品分析通常使用多种技术手段。对于AFM和SEM成像技术而言,这意味着在实际操作中需要对完全相同的区域进行对比分析。
OptistatDryTLEX是一款用于光谱学测量的低温恒温器,由配有光学通路的紧凑型恒温器和闭循环制冷机组成,采用顶部换样设计。无需液体制冷剂即可将样品降温至液氦温度,提高了使用便捷性的同时降低了运行成本。配备光学窗口和测量引线拓展选件,可进行原位的光学和电学测量。