台阶仪JS2000B的薄膜分析

薄膜涂层技术在光学、电子、装饰等领域应用广泛，涂层厚度是其关键质量指标之一。全自动台阶仪JS2000B通过测量镀膜区域与基底之间的台阶差，可快速得到膜层厚度信息。

该设备适用于测量各类功能性涂层，如光学镀膜、保护涂层、导电薄膜等。其自动化扫描功能可评估薄膜在基材表面分布的均匀性，识别可能存在的厚度偏差区域。对于多层膜结构，通过选择性刻蚀或掩膜制备台阶，可逐层测量各子层厚度，为膜系设计与工艺优化提供反馈。