德国布鲁克 X射线镀层测厚仪M1 ORA
日立X-Strata920 X射线荧光镀层测厚仪
COMPACT Eco X射线荧光镀层测厚仪
INSIGHT 镀层分析仪 台式镀层测厚仪
XAN500 X射线荧光材料分析及镀层测厚仪
M系列可满足以下类型用户的需求：
非常小的样品，主要应用于半导体，连接器或PCB领域
需要测试多个样品的多个位置
非常薄的涂层（<100nm）
需要在短时间内完成测量（1-5秒）
保证符合 IPC-4552、4553、4554 和 4556
ASTM B568 和 ISO 3497
渴望升级旧的XRF的性能和效率–并获得丰厚的以旧换新奖励！
产品规格
机型对比
| X射线管： | 50W 钨靶毛细管光学元件 @15µm FWHM @ 17 KeV 可选：Cr、Mo 或 Rh |
| 探测器： | 优于190eV分辨率的大窗口硅漂移探测器 |
| 分析层数 及元素数： | 5层（4层+基材） 每层可分析10种元素，成分分析最多可分析30种元素 |
| 过滤器： | 4位置一次滤波器 |
| 输出焦深： | 固定为0.15英寸（3.81毫米） |
| 数字脉冲处理： | 4096 多通道数字处理器，自动死时间和逃逸峰校正 |
| 计算机： | Intel CORE i5 第 9 代台式机处理器、固态硬盘、16GB RAM、Microsoft Windows 11 Professional 64 位等效版本 |
| 相机： | 1/4英寸（6毫米）CMOS-1280×720 VGA分辨率，在250毫米（45英寸）屏幕上，双摄像头为381倍，单摄像头为15倍 |
| 视频放大倍率： | 140X 微型、7X 数字变焦、9X 微距和表格视图 |
| 电源： | 150W，100-240V，频率范围为47Hz至63Hz |
| 工作环境： | 温度介于68°F（20°C）与77°F（25°C）之间，相对湿度小于98％，无冷凝 |
| 重量： | 70kg |
| 可编程XY平台： | 工作台尺寸：432毫米（17英寸）x 406毫米（16英寸）| 行程：165毫米（6.5英寸）x 165毫米（6.5英寸）高精度 |
| 最大扩展可编程 XY： | 工作台尺寸：813mm (32″) x 781mm (30.75″) | 行程：406mm (16″) x 406mm (16″) 现在可用 延伸 舞台选择 |
| 样品仓尺寸： | 高度：137 毫米 (5.4 英寸)，宽度：305 毫米 (12 英寸)，深度：330 毫米 (13 英寸) |
| 外形尺寸： | 高度：508mm（20"），宽度：457mm（18"），深度：610mm（24"） |
报价：￥1
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标配： ● 50瓦，钼(Mo)钯铍窗微聚焦高效散热黄铜材质 X 射线管 ● 标配高分辨率SDD 探测器, 分辨率 125eV ● Z 轴自动控制，Z轴行程：132mm；可容纳样品高度 140 mm ● 55X 光学放大相机，1X~7X 数字放大 ● 多导毛细管光学机构 Flex-Beam Capillary Optics @80 um FWHM ， 可测量最小Pad点直径 100 um 及以上
E系列 提供了测量各种样品尺寸，形状和数量的灵活性。 它配备了一个高精度可编程XY平台，可在一个固定阶段提供多种便利因素。 操作员可以使用鼠标和软件界面轻松移动到所需的测量位置。 可以创建多点程序，通过单击按钮自动测量多个样品位置。 精确控制可用于测试关键区域。 通过多点编程可以获得更大的采样量。
M系列 是用于最小特征的高性能电镀厚度测量的终极产品。 M系列中的多毛细管光学元件比 O系列，将 X 射线束聚焦到 7.5μm FWHM。 为了在该尺度上测量特征，包括具有更高数码变焦的 140 倍放大率相机。 随着放大倍数的增加，视野变得更加受限，因此第二台相机拍摄要测量的零件的宏观图像。 双摄像头系统允许操作员查看整个零件，单击图像以使用高磁力摄像头放大，并精确定位要测量的特征。 高精度可编程XY平台可用于选择和测量多个点; 模式识别软件也可以自动执行该操作。2-D连续扫描功能可查看硅片等部件表面区域的涂层形貌。
营业执照已审核
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沪公网安备 31011502008050号