德国布鲁克 X射线镀层测厚仪M1 ORA
日立X-Strata920 X射线荧光镀层测厚仪
COMPACT Eco X射线荧光镀层测厚仪
INSIGHT 镀层分析仪 台式镀层测厚仪
XAN500 X射线荧光材料分析及镀层测厚仪
标配:
● 50瓦,钨(W)钯微聚焦黄铜材质高效散热X射线管,寿命长
● 标配高分辨率 25mm 2SDD探测器(可选70mm 2LSDD),优于 125eV
● 30X 光学放大相机,1X~7X 数字放大,可放大210倍
● 标配多准直器组件,4 个一组,直径 0.1, 0.2, 0.3, 0.6 mm
● Z 轴自动控制,可容纳样品高度 140 mm,Z轴行程132mm
● 镭射自动聚焦、光学扫描聚焦、智能自动聚焦
● 可调节 LED 样品照明
● 安全互锁及Z 轴防碰撞机构
● 基于 FP 的膜厚测量软件 X-Raliser
P系列(标准台XY台)
● 4 位置自动切换一次滤波器
● 联想电脑:CPU i5 处理器、16G 内存、480G固态硬盘、WIN10专业版
联想显示屏
● 彩色喷墨打印机
P 系列(标准可编程XY台):
● 标准电动可编程 XY 平台,行程 152x127 mm
● 标准 XY 平台尺寸 381x340 mm 或 600x600 mm
E系列扩展加大XY台(线路板行业):
● 加大电动可编程 XY 平台,行程 254x254 mm
● 加大XY 平台尺寸 715x610 mm
可选项(*):
E系列(扩展加大XY台)
● 高分辨率 70平方毫米LSDD 硅漂移探测器
● 55X 光学放大相机,1X~7X 数字放大
● 多准直器,4 个一组
■ 0.05x0.05、0.1、0.2、0.3mm
■ 0.05x0.25、0.1、0.2、0.3mm
■ (特殊规格请与厂商确认)
● 可变聚焦系统,覆盖 6, 12.5, 25, 37, 61, 73, 86 mm 焦距
● 满足实际样品的外观多样性
■ 平面、台阶、凹槽、弧面 ……
报价:¥1
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报价:面议
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标配: ● 50瓦,钼(Mo)钯铍窗微聚焦高效散热黄铜材质 X 射线管 ● 标配高分辨率SDD 探测器, 分辨率 125eV ● Z 轴自动控制,Z轴行程:132mm;可容纳样品高度 140 mm ● 55X 光学放大相机,1X~7X 数字放大 ● 多导毛细管光学机构 Flex-Beam Capillary Optics @80 um FWHM , 可测量最小Pad点直径 100 um 及以上
E系列 提供了测量各种样品尺寸,形状和数量的灵活性。 它配备了一个高精度可编程XY平台,可在一个固定阶段提供多种便利因素。 操作员可以使用鼠标和软件界面轻松移动到所需的测量位置。 可以创建多点程序,通过单击按钮自动测量多个样品位置。 精确控制可用于测试关键区域。 通过多点编程可以获得更大的采样量。
M系列 是用于最小特征的高性能电镀厚度测量的终极产品。 M系列中的多毛细管光学元件比 O系列,将 X 射线束聚焦到 7.5μm FWHM。 为了在该尺度上测量特征,包括具有更高数码变焦的 140 倍放大率相机。 随着放大倍数的增加,视野变得更加受限,因此第二台相机拍摄要测量的零件的宏观图像。 双摄像头系统允许操作员查看整个零件,单击图像以使用高磁力摄像头放大,并精确定位要测量的特征。 高精度可编程XY平台可用于选择和测量多个点; 模式识别软件也可以自动执行该操作。2-D连续扫描功能可查看硅片等部件表面区域的涂层形貌。