德国布鲁克 X射线镀层测厚仪M1 ORA
日立X-Strata920 X射线荧光镀层测厚仪
COMPACT Eco X射线荧光镀层测厚仪
INSIGHT 镀层分析仪 台式镀层测厚仪
XAN500 X射线荧光材料分析及镀层测厚仪
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(可选配50 um FWHM,可测量最小Pad点直径75um或以上)
● 固定焦距:2.5 mm
● 标准电动可编程 XY 平台,行程 127x152 mm
● 标准 XY 台面尺寸 330x381 mm
● 可调节 LED 样品照明
● 安全互锁及Z 轴防碰撞机构
● 基于 FP 的膜厚测量软件
● 4 位置自动切换一次滤波器
● 联想电脑主机:处理器 i7、内存16G 、固态硬盘1T、联想显示屏
● 彩色喷墨打印机
O系列 (线路板XY台)
● 具备舌状进样功能
*选配:O系列(线路板行业XY台):
● 可选加大电动可编程 XY 平台,行程 254x254 mm
● 可选加大 XY 台面尺寸 715x610 mm
● XY 轴移动精度 10um
*选配:O系列 Plus(线路板行业扩展加大台面):
● 可选加大电动可编程 XY 平台,行程 400*400mm
● 可选加大 XY 台面尺寸 800*770mm
O系列 (线路板行业扩展XY台)
● XY 轴移动精度 1 um
● 可完成镀层厚度测量、元素分析、电镀液分析
● 最多同时测量5层(4层镀层+底材),每层可同时分析10种元素
● 成分测量可同时分析30种元素
● 元素范围从 Al 铝(13)到 U 铀(92)
● 厚度范围从低至 1nm(纳米)到超过 100um(微米)
● 符合 ISO3497、ASTM B568、GB/T16921 标准测试方法
● 满足 IPC-4552A、4553A、4554 和 IPC4556 标准
● 注:具体应用的测量范围及精度,以厂家确认的规格为准
微聚焦 X 射线管,提供不同靶材选项,最优化样品激发效果
● 黄铜管体X射线管,确保良好散热性能,有效延长射线管寿命
● 标准配备 50 瓦 Mo 靶微聚焦 X 射线管
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提供各种可选靶材
■ W、Rh、Cr、Au、Ag、Mo
■ 适应不同应用需求,确保优化对被测物的激发效果
报价:¥1
已咨询6次X射线镀层测厚仪
报价:¥1
已咨询13次X射线镀层测厚仪
报价:面议
已咨询2927次XRF分析仪
报价:面议
已咨询1475次QMAXIS切割耗材
报价:面议
已咨询3261次XRF镀层测厚仪
报价:面议
已咨询403次超薄切片机
报价:面议
已咨询454次超薄切片机
报价:面议
已咨询3154次XRF分析仪
标配: ● 50瓦,钼(Mo)钯铍窗微聚焦高效散热黄铜材质 X 射线管 ● 标配高分辨率SDD 探测器, 分辨率 125eV ● Z 轴自动控制,Z轴行程:132mm;可容纳样品高度 140 mm ● 55X 光学放大相机,1X~7X 数字放大 ● 多导毛细管光学机构 Flex-Beam Capillary Optics @80 um FWHM , 可测量最小Pad点直径 100 um 及以上
E系列 提供了测量各种样品尺寸,形状和数量的灵活性。 它配备了一个高精度可编程XY平台,可在一个固定阶段提供多种便利因素。 操作员可以使用鼠标和软件界面轻松移动到所需的测量位置。 可以创建多点程序,通过单击按钮自动测量多个样品位置。 精确控制可用于测试关键区域。 通过多点编程可以获得更大的采样量。
M系列 是用于最小特征的高性能电镀厚度测量的终极产品。 M系列中的多毛细管光学元件比 O系列,将 X 射线束聚焦到 7.5μm FWHM。 为了在该尺度上测量特征,包括具有更高数码变焦的 140 倍放大率相机。 随着放大倍数的增加,视野变得更加受限,因此第二台相机拍摄要测量的零件的宏观图像。 双摄像头系统允许操作员查看整个零件,单击图像以使用高磁力摄像头放大,并精确定位要测量的特征。 高精度可编程XY平台可用于选择和测量多个点; 模式识别软件也可以自动执行该操作。2-D连续扫描功能可查看硅片等部件表面区域的涂层形貌。