高级实验室涂层厚度测量系统

功能和优点

• 灵活快速 – 模块化设计，具有从质量控制实验室到生产车间的即时测量能力。
• 非接触式 – 测量过程不接触涂层或基材，保持样品和部件的完整性。
• 绝对厚度测量 – 超高精度的实时涂层和层厚度测量，加速样品测试、数据收集和质量分析。
• 基材独立 – 适用于透明、有色或着色基材的湿样或干样测量。
• 广泛应用 – 实时测量单层或双层涂层，或亚微米级的离散层。
• 无危害性 – 采用独特的非放射性和非侵入性的ROI和EXR光学技术。
• 环保 – 非破坏性测试方法减少废料、返工劳动力和能源成本。
• 强大的SensorMetric软件 – 用户友好的软件包自动将所有数据存储到Excel®或工厂网络中。
• 简化质量控制流程
  SpecMetrix®高级实验室涂层厚度测量系统旨在简化质量控制流程。由于其无与伦比的能力，能够以亚微米级精度识别和量化绝对薄涂层或层厚度，它是我们实验室测量工具之一。
  
  SpecMetrix高级实验室系统加速了离线样品测试，并改善了来料和成品检验。它是多个行业和应用中受到质量控制实验室信赖的系统之一。
• 多功能测量能力
  SpecMetrix®高级实验室涂层厚度测量系统是一个极其多功能的系统，允许用户测量几乎任何涂层或涂覆层。
  

• 湿涂层或干涂层
• 清晰、着色或有色涂层
• 适用于任何基材的涂层，几乎适合任何行业，包括柔性包装、汽车和工业
• 广泛应用 – 实时测量单层或双层涂层，或亚微米级的离散层
• 模块化设计，具有从质量控制实验室到生产车间的即时测量能力
• 高精度、即时测量
  
  SpecMetrix®高级实验室系统在单点和扫描模式下提供高精度的非接触样品测试。它提供超精确和实时的涂层及层厚度测量，以帮助加速样品测试、数据收集和质量分析。
  
  完整的涂层洞察
  
  凭借SpecMetrix精确和创新的ROI增强光学干涉技术，用户可以获得样品的完整涂层测量数据。我们的技术将允许您通过非接触和非破坏性手段获得涂层测量。
  
  该技术也很安全——无放射性和无侵入性。我们专利（美国专利号 6,674,533、7,128,985、7,274,463、7,365,865 和 7,537,681，发明专利）的光学技术高度先进，并在整个涂层行业中得到广泛应用。
  
• 强大的SpecMetrix软件
  SpecMetrix配套的软件功能强大，用户界面友好。所有实时测量数据可存储至Excel®文件，或直接对接工厂网络系统，实现生产过程中的SPC统计过程控制分析。每一批次的测量数据都可以形成完整的质量控制记录，便于应对后续的质量查询或索赔问题。
• 技术参数
  规格
  SKU:
  
  应用： 光学测试, 油墨与涂料, 涂层检测, 涂层测试
  
  材料： 油墨和涂料
  
  测量范围: 0.2至250微米（涂层厚度）
  
  精度: 涂层厚度的±1%（标称值）* 基于使用NIST可追踪的厚度标准进行的整个测量范围（0.2至250微米）精度验证
  
  测量速度: 每秒最多100次
  
  温度范围: 0°至45°C
  
  输出指标: 微米、密耳、mg/in²、mg/4in²、g/m²、mg/cm²、lbs/令
  
  操作系统: Windows®平台
  
  制造: 美国制造
  
  认证: CE认证、UL认证和CSA认证