分光光度计测试管和特殊应用细胞Spectrophotometer Test Tube and Special Application Cells
半导体应用手套箱
科学应用热像仪
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尚丰科技向用户提供高精度的电镜3D图像标准样品,帮助电镜用户确保电镜3D测量的准确度。
3D calibration 电镜3D图像标准样品应用广泛,可用于扫描电镜SEM, 激光共聚焦显微镜CLSM,及原子力显微镜AFM/扫描隧道显微镜SPM
3D Calibration
为了保证电镜3D图像测量的准确性,我们需要用到德国生产、做工精良的3D图像标准样品。
一步完成样品平面和高度的校准
已经完成精确测量的样品及其数据库
能够准确测算所有计量和切面数据的软件系统
能够对测量数据进行校准的数据接口

快速而准确:自动校准
使用数字图像处理系统,自动处理基于精密标准样品的探测和测量数据
确保数据处理结果的准确性和可靠性
应用广泛: 扫描电镜SEM,激光共聚焦显微镜CLSM,扫描隧道显微镜SPM/原子力显微镜AFM
适用于所有图像表面测量系统
多种规格( 20x20μm2 至 160x160μm2 )
提供特定规格标样(如为背反射电子探测器进行校准用的圆球形样品)
基于经过数据校准和校正的软件系统
对参照标记进行自动探测和子像素测量
对多达12条直线参数进行计算和数据分析
对侧面和垂直的非线性进行自动分析
自动生成工作报告(PDF), 具备数据校正模式接口
集成数据采集和分析软件
鼠标一键点击进行图像数据测量
3D数据实时校正并输出
应用案例1
扫描隧道显微镜

侧面未校正图像

校正后图像显示
应用案例2
激光共聚焦显微镜校正CLSM

未校正图像

校正后图像
可见,3D电镜图像标准样品能够极大地改善电镜状态,保证图像质量。
尚丰科技致力于引进推广先进的材料、生物显微观测及微区分析仪器,向科研人员高附加值服务。
我们拥有一支涉及众多领域高素质的应用支持团队,为各行业的应用需求提供专业的解决方案和售后服务。
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尚丰科技(香港)科技有限公司
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S-4800型高分辨场发射扫描电镜(简称S-4800)为日本日立公司于2002年推出的产品。该电镜的电子发射源为冷场,物镜为半浸没式。在高加速电压(15kV)下,S-4800的二次电子图像分辨率为1 nm,这是目前半浸没式冷场发射扫描电镜所能达到的最高水平。该电镜在低加速电压(1kV)下的二次电子图像分辨率为2nm,这有利于观察绝缘或导电性差的样品。S-4800的主要附件为X射线能谱仪。
二手 日立 SEM+EDX 冷场电镜SU8000系列高分辨场发射扫描电镜,其中SU8020不光1kv的分辨率提升到1.3nm,并且在探测器设计上有新的突破,配置了Lower、Up-per和Top三个Everhart-Thornley型探测器,可以接受SE、LA-BSE和HA-BSE多种信号,实现微区的形貌衬度、原子序数衬度、结晶衬度和电位衬度的观测;结合选配的STEM探测器。
日立SU-8010是日立高新技术的SEM的全新品牌,新品牌 "REGULUS系列" 电子光学系统进行了最优化处理,使得着陆电压在1KV时分辨率较前代机型提高了约20%。另外,最适合低加速电压下高分辨观察的冷场电子枪可将样品的细节放大,并获得高质量的图片。最大放大倍率也由之前的100万倍提高到了800万倍。除此之外,为了能更好的应对不同样品的测试和保持并发挥出高性能,还对用户辅助工能进行了强化。
日本电子扫描电镜JSM-IT300型是一款高性能,多功能,多用途的钨灯丝扫描电镜。颠覆性的前卫性外观设计还特别吸引眼球。操作改为触摸屏控制,简单化,从此操作电镜非常只能化。
扫描电子显微镜主要用于观察物体的表面形貌像,除此意外,如果配备能谱分析系统,在进行获得样品表面像的时候,还可以对样品的某个定点位置进行元素的半定量分析。根据EDS分析出的元素比例,进行拟合处理,可以大概的判断出样品是什么类型的样品。
德国Zeiss 场发射电子显微镜SIGMA 300 ,ZLGemini镜筒,超高的束流稳定性,超高的束流稳定性,zhuo越的低电压性能,In Lens 探测器,磁性材料高分辨观察,ding级X射线分析设计,便越操作系统设计,超大空间,多接口,升级灵活。
德Zeiss 电子束直写仪 Sigma SEM,利用曝光抗蚀剂,采用电子束直接曝光,可在各种衬底材料表面直写各种图形,图形结构(Z小线宽为10nm),是研究材料在低维度、小尺寸下量子行为的重要工具。广泛应用于纳米器件,光子晶体,低维半导体等前沿领域。
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