蔡司X射线显微镜Xradia 515 Versa

产品介绍

蔡司 X 射线显微镜 Xradia 515 Versa，凭借其突破性技术和高分辨率探测器，将 3D X 射线显微镜 ( XRM ) 的性能提升至新的高度，为各种尺寸的样品提供亚微米级成像解决方案。保持先进的大样品高分辨率技术优势的同时，该系统可实现高达500 nm空间分辨率。该产品通过使用更高分辨率的光学元件，实现分辨率的改善和突破。与此同时，该产品还加入了更多的智能的元素，并且具有更广阔的拓展能力。

此外，Xradia 515 Versa系统还可进行扩展和升级，包括原位接口、4D原位试验平台、迭代重构、自动进样装置、平板探测器等多个拓展模块。结合蔡司Xradia平台的灵活性和稳定性，该产品无与伦比的多功能、多应用领域特点将为您的研究工作快速的提供分析成果。

产品特点

三维无损成像

500 nm真实空间分辨率

独特的大工作距离下高分辨率，可实现不同类型、尺寸和类型 样品多尺度成像

吸收、相位衬度成像模式

智能防撞系统，让您的设置更简单、更智能

4D 原位成像能力

可升级、拓展和可靠性

应用领域

材料科学，如金属、陶瓷、高分子、混凝土等三维无损分析

生命科学，如微观结构三维成像

地球科学，如地质、油气、矿产、古生物等三维成像

电子和半导体行业，如形貌测量及失效分析

原位力学、变温试验