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弱吸收仪 - 共光路干涉吸收仪

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详细介绍

产品介绍:

弱吸收-共光路干涉吸收仪


测量原理

Pump 光(泵浦光)为一束光束质量较好的强激光聚焦到待测样品上,光吸收的存在将在样品内部产生热波,从而在样品内部形成周期性的梯度折射率分布,即热透镜效应,当一束Probe beam(探测光)经过热透镜效应区域与pump光相交时,探测光在该焦点处波前发生畸变引起点衍射共路干涉,并产生周期性相位畸变信号。探测器通过探测其相位畸变情况并由锁相放大器信号处理,最 后由软件计算显示出待测样品的吸收值。

 

image.png


 PCI弱吸收仪特点:

  • 精度高: 1 ppm;

  • 一次测量可以区分体、面吸收;

  • 测量方式:透射式、反射式(可选)

  • 扫描速度快(几分钟);

  • 对样品规格要求不高;

  • 操作方便、简单。


 PCI弱吸收仪应用领域:

  • 光学薄膜;

  • 光学晶体材料;

  •  光学镜片。


PCI弱吸收仪性能

  • 测量晶体(LBO、YVO4、KTP…)或光学产品(K9、BK7、UVFS…)内部材料的弱吸收(体吸收);

  • 测量晶体或光学产品的表面吸收或薄膜吸收。
     

PCI 指标说明

项目
参数说明
pump波长
   1064nm
测量精度
1064nm:面吸收:1ppm;体吸收:1ppm/cm
样品规格
方形、圆形均可
最 小尺寸(mm):3x3x3;
最 大尺寸(mm):50x50x50;150x150x50
可定制样品尺寸
扫描分辨率
 10ms单次,10um-4mm/s扫描
测试速度
常规2min/片(相对6mm厚度)
区分体、面吸收
   一次测量可以区分体、面吸收
软件扫描功能
 AbMat-1D: 一维逐点扫描
AbMat-2D: 二维吸收立体扫描
扫描方式
长度/面/时间扫描

 

 

PCI 配置说明

1.光源
Probe光源
632nmHe-Ne 激光器(原装进口)
-最 大功率:2mw
-功率稳定性:<0.1%
-发散角:1.3mrad
-偏振比:500:1
Pump光源
#1064nm 光纤激光器
-平均功率: 20W(CW)
-光束质量M2:<1.5
-功率稳定性:<2%(超过5 小时)
-偏振:随机
-制冷方式:风冷
-偏振光系统
2.探测部分
原装进口
含锁相放大器、光斩波器、探测器、功率计、二维调整架等。
3.载物台部分
原装进口
含三维步进电机、样品支架等
4.光学元件部分反射镜、透镜、功率调节器等
5.软件部分
实时数据采集,自动保存,数据分析等。
 一维逐点扫描
 二维吸收立体扫描
6.其它说明
建议设备安装在超净间环境;
建议配UPS电源。

 

测量结果及仪器实物图

 image.png


 

image.png


产品优势
PCI弱吸收仪特点:
精度高: 1 ppm;
—次测量可以区分体、面吸收;
扫描速度快(几分钟);
对样品规格要求不高;
操作方便、简单。
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