美国Hinds 各向异性测量系统 2-MGEM 椭圆计

产品介绍：

Hinds lnstruments 公司的2-MGEM椭圆仪是一种用于侧星米勒矩阵样本的正常入射偏振反射显微镜。它可以用来评估RTSO核然料热解碳层的光学各向异性(OPTAF)。该系统是根据D.G.eJelison J等人在在论文中提出的“使用双调制器广义椭圆测微显微镜(2-MGME)的垂直入射广义椭圆仪。该椭圆仪是一个重大的突破，光学各向异性测量技术更快、收集更多的数据。该系统是围绕两个Hinds lnstruments系列]光弹性调制器(PEMs)建立.Hinds lnstruments公司是基于PEM偏振调制原理的科研和工业仪器和技术的开发商。PEM被广泛应用于高灵敏度光学测量设备的研究和开发应用。2-MGEM椭圆仪测量光束偏振状态的变化，这些光偏振束态是由TRISO燃料颖粒的各层反射而来的。该系统采用高精度定位平台，测量点大小为5 pum，在被测星的每个燃料颗粒上收集数千个点。通过自动化软件计算并报告了各个采祥点的线性衰减、线性延迟和反射强度。然后用这些参数计算每个热解炭层(IPyC和OPyC)的OPTAF测定。

Hinds Instruments 2-MGEM椭圆仪由四个主要部件组成:

扫描模块

主电机外壳光源

计算机系统

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