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美国Hinds 应力双折射测量系统

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详细介绍

美国Hinds成立于1971年,凭借其ZL的PEM(光弹变调制)技术研发了高稳定的应力双折射测量系统,具有目前世界上最高的精度,可用于测量以下样品的双折射(快慢轴相位差/延迟度和快轴角度).

? 光学器件

? 液晶玻璃基板, 液晶滤光片

? 激光晶体

? DVDs

? 光刻机部件, 如氟化钙窗口, 融石英光学器件,光掩膜板等

? 相机镜头

? 太阳能硅片,半导体晶圆

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