-
-
美国Hinds 圆二色性测量系统
- 品牌:美国Hinds
- 型号: 01
- 产地:美国
- 供应商报价: 面议
- 北京昊然伟业光电科技有限公司 更新时间:2024-01-04 10:21:54
-
企业性质授权代理商
入驻年限第2年
营业执照已审核
- 同类产品光学材料测试(12件)
联系方式:杨小姐400-855-8699转8028
联系我们时请说明在仪器网(www.yiqi.com)上看到的!
-
为您推荐
- 详细介绍
产品介绍:
EKKOTM圆二色性微片测量仪用于光学活性化合物的高通量筛选。
EKKOTM圆二色性微片测量仪使用垂直光路直接从标准孔板测量圆二色性。这样就不需要将溶液转移到试管中进行筛选,也不需要在分析过程中清洗试管,没有传输清洗和净化,您可在短时间内获得更好的数据。EKKOTM微片测量仪实现了高通量手性筛选。
特征
不对称合成和催化的高通量筛选
2个小时内完成96全光谱
比高性能液体色谱法更快、更便宜
比传统的单样本分析CD方法更快速
比自动采样附件的常规CD更轻便
可找到光学活性化合物
直接从孔板读取对映体过量值
允许每小时阅读数千对映体过量值
包含PC和带圆二色微片测量仪软件的监视器
与带有自动取样附件的常规CD光谱仪相比更小: 20” x23” x28"(50cm x 60cm x70cm)
- 产品优势
- EKKOTM圆二色性微片测量仪用于光学活性化合物的高通量筛选。
EKKOTM圆二色性微片测量仪使用垂直光路直接从标准孔板测量圆二色性。这样就不需要将溶液转移到试管中进行筛选,也不需要在分析过程中清洗试管。没有传输、清洗和净化,您可在短时间内获得更好的数据。EKKOTM微片测量仪实现了高通量手性筛选。
- 美国 Hinds 双折射(应力)测量系统-EXICOR OIA
- 美国Hinds 双折射(应力)测量系统 EXICOR-GEN
- 美国Hinds 双折射(应力)测量系统 EXICOR-PV-Si
- 美国Hinds 应力双折射测量系统
- 美国Hinds 成像型穆勒矩阵测量系统 Mueller_Polarimeter_150XT
- 美国Hinds 高精度偏振态(斯托克斯量)测量系统
- 美国Hinds 非球面透镜应力双折射测量系统
- 美国Hinds 大型液晶面板高精度应力分布测量系统
- 美国 SCIEX CHiPLC 系统
- 美国 MMR 霍尔效应测量系统 H5000
- Filmetrics 薄膜厚度测量系统F20,F30,F40,F50,F60,F3-XXT 系列
- 韩国Ecopia霍尔效应测量系统HMS3000,HMS5000