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赛默飞 Phenom Pharos热场发射扫描电子显微镜能谱一体机SEM

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赛默飞 Phenom Pharos热场发射扫描电子显微镜能谱一体机SEM 核心参数
电子枪: 场发射
详细介绍

赛默飞推出的全新台式扫描电镜 Phenom Pharos 搭载肖特基场 发射电子枪,可稳定提供超高信号质量的显微照片,这意味着无 需严苛的安装条件,场发射电镜便可以为更多科研工作者提供服 务。得益于 Phenom Pharos 对极简工业设计原则的秉持,这 款电镜从安装到实际使用的整个过程都极其简单。Pharos 设计 精巧,且选用了高质量探头,这使得它的成像速度超快,测试结 果稳定可靠。


产品技术参数:

扫描电镜放大倍数范围200 x - 1.000.000x尺寸 & 重量
光学显微镜放大20 x - 134 x主机286(w) x 566(d) x 545(h) mm, 53 kg
加速电压2 kV - 15 kV真空泵145(w) x 220(d) x 213(h) mm, 4.5 kg
分辨率优于 2.5 nm@15kV电源156(w) x 300(d) x 74(h) mm, 3 kg
样品台全自动马达样品台显示器375(w) x 203(d) x 395(h) mm, 7.9 kg
定位全自动样品定位与回溯ProSuite

375(w) x 250(d) x 395(h) mm, 9 k

g标准的ProSuite 系统包括: 

• 19” 显示器的电脑 

• 路由器

探测器
环境条件
标配背散射电子探测器温度15°C ~ 30°C (59°F ~ 86°F)
选配

• 二次电子探测器

• 能谱探测器

湿度< 80% RH
电子源肖特基场发射电子源电源单相交流电 110 - 240 V 50/60 Hz, 400 W (最大功率)
真空模式

• 高真空

• 中真空 

• 低真空

建议桌面尺寸150 x 75 cm,载重 100 kg



能谱面扫描和线扫描 

元素面扫描功能显示整个样品的元素分布。指定像素分辨率和获 取时间之后,即可获取某元素的分布情况。实时面扫描算法实时 显示所选元素的分布情况。对于用户来说,只需选取感兴趣的位 置即可。 线扫描功能显示了线图中的量化的元素分布。这对于涂层、涂料 和其他多层样品尤其有用。所有的面扫描和线扫描功能的结果都 可以通过自动化的报表模板轻松导出。


 二次电子探测器 

二次电子探测器 (SED) 可选用在 Phenom Pharos 上,SED 从 样品的表层收集低能量电子。因此,它是分析样品表面信息的最 佳选择。SED 可以很好地应用于表面和形态分析。在研究微观结 构、纳米结构或颗粒时,这就很有意义。

 

应用多样性 

为满足不同领域的测试需求,Phenom Pharos 拥有多种特定功 能的样品杯,如金相杯、温控杯、原位通电杯和倾斜旋转杯等。 测试时,您只需简单更换样品杯,就能满足特殊样品的测试需求。


产品优势
产品特点:
高分辨场发射扫描电镜
• 肖特基场发射电子源
• 分辨率优于 2.5 nm@15 kV
使用最方便的场发射扫描电镜
• 耦合式电子光路设计
• 无需喷金直接观察不导电样品
世界上最快的场发射扫描电镜
• 内置全自动真空锁,15 秒抽真空
• 实时地图导航,全面样品跟踪
场发射扫描电镜能谱一体机
• 原厂集成能谱仪
• B (5)-Am (95) 元素探测
普通放置环境
• 台式设计,完全防震
• 内置磁屏蔽系统
售后无忧
• 高容差、防呆设计 • 电子光路免维护
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