二手日本精工 SFT9455型 X射线膜厚仪

产品特点： 

★搭载有高功率X射线管及双检测器（半导体检测器+比例计数管） 

可对应组合复杂的应用程序，特别是可识别N和Cu之类能量较为接近的元素：能够对Ni/Cu和Au/Ni/Cu在不使用二次滤波器的情况下进行测量对于含Br的电路板，可以不受Br的干扰对Au的镀层厚度进行高精度的测量可测量0.01μm以下的超薄的Au镀层厚度 

★搭载块体FP发软件和薄膜FP法软件 

对应含铅的合金镀膜和多层镀膜等，适用于广泛的运用领域★适用超微小面积的测量 

标准配备的15μmΦ的准直器，可对超微小面积进行测量。★搭载了可3段切换的变焦距光学系统★拥有防冲撞功能 

★搭载高精度样品平台，更可测量大型线路板（SFT9455) 

★搭载激光对焦系统 

★搭载测试报告自动生成软件 

产品特征： 

为了对应电子工业当中越来越复杂的镀金工艺而设计，是在以往的SFT9300的基础 

上升级的产品。他继承了SFT9300的75W高功率X射线管，还配备双检测器（半导体检 

测器+比例计数管)。是SFT9000系列里级的机型，能满足“薄膜镀层”、“合金镀层 

”、“超微小面积测量”等镀层厚度测量需求的高性能镀层厚度测量仪。此外， 

SFT9400系列还在测量镀层厚度的基础上，新增了可对不同被测物体积材料进行定性分 

析和成分分析的功能。 

产品介绍： 

SFT9400系列产品规格 

型号：SFT9400/SFT9450/SFT9455 

仪器的特长：微小面积对应及高性能型可测量元素：原子序号22(Ti)~83(Bi)》 

X射线源：小型空气冷却型高功率X射线管球(Mo靶)管电压：50kV管电流：1.5mABe窗 

滤波器：一次滤波器：M0-自动切换 

二次滤波器：无 

照射方式：上方垂直照射方式 

检测器：半导体检测器+比例计数管（不需液氨的检测器）仪器校正：自动校正+手动校正准直器（标准配置）：○型（4种)》安全性能：样品室门锁，样品防冲撞功能样品图像对焦：有（激光对焦） 

样品观察：CCD摄像头+倍率光学器+卤素灯照明 

焦点切换功能：3段切换9400：10/40/70mm9450:10/25/40mm 

X-rayStation台式电脑(os;MS-WindowsXP®)打印喷墨打印机 

应用单层、双层、多成分合金薄膜、成分比同时测量、化学镍 

软件块体FP法软件、薄膜FP法软件 

测量功能：自动测量、ZX搜索、图像识别处理 

修正功能：基材修正、已知样品修正、人工输入修正 

统计处理功能：MS-EXCEL 

报告制作功能：MS-WORD®