Kapton 7854F1 探头 半径10.5

Hot Disk Kapton 7854F1 探头

一、核心参数

• 型号：7854 / 7854F1（F1 = 带线）

• 半径：14.0 mm（直径 28.0 mm）

• 绝缘：Kapton 聚酰亚胺

• 温度范围：

• 空气：−253 °C ~ 300 °C

• 真空 / 惰性：最高 400 °C

• 专用模块：Thin Film 薄膜模块（仅用于薄膜 / 片材）

• ❌ 不可用于：各向同性、各向异性、一维、平板等常规块体模块

二、适用场景（用途）

• 最佳适用：

• 大尺寸薄膜 / 片材（纸、织物、聚合物膜、绝缘片、金属箔）

• 样品直径 ≥ 28 mm（必须完全覆盖探头）

• 厚度：10 μm ~ 2 mm

• 导热范围：0.005 ~ 2 W/m·K（低导热绝缘薄膜）

• 优势：大尺寸、高灵敏度、专为薄膜优化，边缘效应控制好

三、与常用薄膜 / 块体探头对比

四、使用要点

1. 样品要求：直径 ≥ 28 mm、厚度 10 μm–2 mm，平整无褶皱

2. 安装：探头完全居中、样品完全覆盖探头，无气泡、无偏移

3. 保护：Kapton 面严禁折叠、划伤、挤压

4. 测量参数：推荐低功率、短时间（适配薄膜低热容）