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Bruker ContourX-500 三维光学轮廓仪

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Bruker ContourX-500 三维光学轮廓仪 核心参数
仪器分类: 接触式
详细介绍

三维光学轮廓仪

ContourX-500

ContourX家族的桌面旗舰型号,全自动设计,带编码器的样品台,头部倾斜设计,和AcuityXR实现高横向分辨率


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ContourX-500

ContourX-500 光学轮廓仪是功能最全面的自动化台式系统,可快速完成非接触式三维表面计量。ContourX-500 具有卓越的 Z 轴分辨率和准确度,并具备布鲁克落地式白光干涉(WLI)仪器广受业界认可的所有优势,而占地面积更小。该款轮廓仪可轻松自主配置,适用于从精密加工表面和半导体工艺的质量保证/质量控制(QA/QC)计量到眼科和微机电系统(MEMS)器件的研发表征等广泛的复杂应用。


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特点

专为卓越台式计量设计

布鲁克专有的光学头倾斜/俯仰技术,为用户生产设置和检测提供极大的灵活度。布鲁克将自动倾斜/俯仰功能与显微镜头中的光路相结合,实现了检测点与视线的结合,不受倾斜影响,从而减少操作人员的干预,提供最大可重现性。其他硬件功能包括创新工作台设计,可提升拼接能力;配备一只 5MP 摄像头,并采用 1200x1000 测量阵列,可降低噪声、扩大视场并提高横向分辨率。ContourX-500 将这些功能与自动化平台设置和物镜相融合,而且仅占较小的空间,成为“按需测量”研发和工业计量的理想系统。

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直接使用多种分析

ContourX-500采用布鲁克简单而强大的 VisionXpress™ 和 Vision64® 用户界面,提供数千种自定义分析以提升实验室和工厂的效率。布鲁克全新通用扫描干涉(USI)测量模式可提供全自动、自感知式表面纹理、优化信号处理,同时对所分析的表面形貌执行最准确、最实际的计算。

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