自动化Contour Elite X三维光学剖面仪结合了****的测量能力，在业界*大的视野和高保真度彩色或单色成像的*高垂直分辨率。没有任何其他计量系统提供非接触式精度、吞吐量、操作人员方便和成像能力来解决如此广泛的生产计量应用。为满足*苛刻的研发、质量保证和过程质量控制需求而设计，Contour Elite X提供了*终的量具能力三维光学剖面解决方案。
彩色成像与计量相结合
额外的高保真彩色成像，一家侧照明和**的算法，使等Contour Elite X用户访问额外的视角，无法提供的系统，单独提供计量学，以及提供可识别的表面特征细节的报告能力。这使用户能够根据颜色或灰度信息分割数据，以快速选择感兴趣的区域，并从这些特定区域收集关键的计量数据。将优异计量学与观察、识别和显示测量结果的能力结合起来，不仅对于理解数据，而且对于交流结果，都是非常重要的。
*佳横向和纵向分辨率
Contour Elite X系统拥有*好的组合横向和纵向分辨率超过行业的*大视野，有一个亚纳米到大于10毫米的垂直范围。它包括研发100奖的针灸XR测量技术，它提供了打破衍射极限在您的光学测量。此外，该系统还可以使用一个百万像素的相机来提高X-Y空间分辨率.从1倍到115倍的大视场和客观放大使得能够描述极其广泛的表面形状和纹理。
快速无损成像
Contour Elite X型剖析器是一个非接触系统与一个大的舞台，使您的样本或部分完整和未损坏。我们的*利白光干涉测量(WLI)技术获得高度数据的亚纳米精度，是独立于放大使用。这意味着，即使在一毫米范围内采样超过一百万个数据点--平方图像区域，用户也能够在几秒钟内收集到高分辨率的高度数据。
