德国布鲁克 MultiMode 8-HR 原子力显微镜

产品介绍：

特征

NanoScope 开放工具箱

MultiMode 8-HR 提供了多种用于监控信号、修改实时操作和实现自定义离线分析的方式。标准 NanoScope® 可直接打开 MATLAB数据并导出ASCII 码。您可以使用Virtual SAM 监控内部信号并对输入信号进行修改，或选配 SAM lll 扩展您的功能。还可以通过选配纳米刻蚀和修改COM界面来控制AFM的功能。您可以利用 NanoScope 开放访问功能将实验扩展到标准 AFM 模式之外，以开发独特的模式来获取全新的数据。

用于信号输入和输出的 NanoScope 控制器。

PeakForce-HR 模块

使用PeakForce-HR 对聚合物成像。扫描范围 1 μm ，扫描速度 5 Hz。 样品由北卡罗来纳大学的 S. Sheiko提供。

MultiMode 8-HR 旨在充分利用峰值力轻敲技术，在空气成像速度加快了6倍，而不会降低图像质量。

了解有关峰值力轻敲的更多信息先进的环境控制

Multimode 8-HR 具有对样品加热和冷却功能。低温配件可在 -35°C 至 100°C 的空气或液体中加热和冷却。高温配件可加热至 250°C，通常用于研究聚合物相变。变温功能的独特之处在于，允许在变温过程中通入保护气，防止样品氧化和尖 端加热，还可以同时加热探针，防止探针被污染。环境控制附件既可与加热/冷却配件集成在一起，也可作为单独的环境室选配。

下载环境控制数据表

三聚物的 PeakForce-HR 图像。从室温(左)开始，样品在加热至 60°C(中间)时熔化，然后在冷却至 55°C(右)时重新结晶。扫描范围 3 μm，以 10 Hz 成像。

AFM 模式

用AFM拓展您的应用

凭借一整套出色的AFM成像模式，布鲁克能为您每项研究提供适用的 AFM 技术。

基于核心成像模式(接触模式和轻敲模式)，布鲁克提供的全套 AFM测试模式，允许用户探测样品的电学、磁性等丰富性能。布鲁克独 创的全新的峰值力轻敲技术作为一种新的核心成像模式，已被应用到多种测量模式中，能同时提供形貌、电学和力学性能数据。

了解有关 AFM 模式的更多功能

Multimode 8-HR 数据库

聚(3-六基乙基苯)(P3HT)有机导电纳米线的PF TUNA电流图，电压为3V。扫描范围为 3 μm ，电流从 0 到 80 pA 范围内变化。

五氧化二氮薄膜的轻敲图像，扫描范围为 5 μm。薄膜用作锂微电池中的正极，并在原始状态(左)、第 一次放电后(中间)和随后充电后(右)进行测试。充电/放电循环不可逆地改变了薄膜结构。图片由法国波城大学的B.Fleutot提供。

用PeakForce HR表征间同立构聚丙烯 (sPP) 和聚乙烯氧化物 (PEO) 共混物。扫描范围3um，扫描速度5Hz。

PeakForce QNM 图像揭示了空气中聚乙烯晶体的分子缺陷。从单个分子的形貌(A) 以及粘附力 (B) 和刚度 (C) 图可以看出，缺陷位点刚度显著降低。图像大小 10 nm。

此模量图揭示了 ULDPE 连接层与截面包装材料的 PS/LDPE 密封层之间的微妙过渡。扫描范围为 3 μm。

通过 PeakForce TUNA 获得的碳纳米管形貌 (A) 和电流 (B) 图。图像大小 1 μm。

使用峰值力轻敲得到云母表面原子级分辨率的形貌和粘附力。

使用PF QNM 得到的聚二基硅氧烷 (PDES) 模量图。在 3 μm 的扫描范围内，模量从 1.5 到 15 MPa内变化。