德国布鲁克 ATOMIC FORCE MICROSCOPE NanoWizard Sense+

基于成熟的NanoWizard技术，NanoWizard Sense+可在空气和液体中对从单分子、活细胞和组织到聚合物和纳米材料的样品进行高性能的测量。

由于其模块化和灵活的设计，它可以很容易地升级为一个完整的NanoWizard® 4 XP系统，并具有特定的应用组件和附加功能。

NanoWizard系列以其广泛的可选配件、模式和功能而闻 名，为您的所有应用提供最 高的灵活性。

样品兼容： 可以通过特殊选配来实现大的标准样品体积（Ø140×18mm3）的测量，如电动定位，用于施加机械负荷于样品的StrechingStage，用于较高样品的Headup台（最 高14cm），以及用于高NA直立光学的BioMAT™的穿梭台。

温度控制：高温和低温选项（例如，独特的CryoStage：-120°C至220°C），有或没有灌注或气体控制。

开放访问： 实验设计的最 大通用性，例如，在AFM上同时使用微吸管或电探针与样品接触。

电学测试： 导电AFM、KPM、EFM、MFM、STM、压电力显微镜、带温度控制的电化学和光学仪器

机械测量： 优化力成像、接触共振成像、纳米操纵、纳米光刻和纳米压痕。涵盖从单分子力谱学到粘弹性力学的先进力谱。

完善的光学集成： NanoWizard AFMs与光学具备优异的整合能力。由于其独特的针尖扫描设计，该系统可以与先进的光学系统相结合，与标准的聚光镜和反射显微镜同时使用，甚至可以穿过薄的盖玻片，并在所有主要的倒置光学显微镜上使用。

成像模式

·        带有横向力显微镜（LFM）的接触模式

·        具有Phase Imaging™的轻敲模式™

力学测量

·        静态和动态力谱

·        高级力学成像

可选模式

·        新：峰值力轻敲

·        高次谐波成像

·        新：接触共振AFM

·        导电AFM

·        开尔文探针显微镜

·        磁力显微镜与静电力显微镜

·        扫描隧道显微镜

·        电学谱模式

·        压电响应显微镜

·        具有温度控制和光学显微镜的电化学

·        纳米印刷

·        纳米操作

·        纳米压痕

·        扫描热AFM

·        新：来自Cytosurge的FluidFM®解决方案

·        ExperimentPlanner用于设计特定的测量工作流程

·        RampDesigner™，用于自定义Clamp和Ramp实验

·        远程实验控制的ExperimentControl功能

·        新：DirectOverlay 2用于AFM和光学显微镜联用