三维光学轮廓仪 Contracx-200

三维光学轮廓仪Contracx-200提供了先进的特性，可定制的选择完美的混合，并易于使用的最佳级别，快速，准确，可重复的非接触式三维表面计量。

该量具能力，小足迹系统提供了不妥协的2D/3D高分辨率测量能力，使用更大的FOV 5 MP数码相机和新的机动XY舞台。由于拥有无与伦比的Z轴分辨率和精度，三维光学轮廓仪Contracx-200提供了Bruker公司专有的白光干涉测量(WLI)技术的所有业界公认的优势，而不受传统共焦显微镜和标准光学轮廓仪的限制。

不妥协，好的等级计量学

基于40多年的专利WLI创新，三维光学轮廓仪Contracx-200显示了低噪声、高速、精确和精确的结果，这是定量计量学所需要的。通过使用多个目标和集成的特征识别，特征可以在不同的视域和亚纳米垂直分辨率上进行跟踪，为质量控制和过程监控在非常多样化的行业中的应用提供独立的结果。三维光学轮廓仪Contracx-200在所有表面情况下都是稳健的，反射率从0.05%到100%不等.新的硬件功能包括创新的舞台设计更大的拼接能力和一个5MP相机与1200x1000的测量阵列，以降低噪音，更大的视场，和更高的横向分辨率。

最广泛的应用分析能力

使用强大的VisionXpress和Vision 64用户界面，三维光学轮廓仪Contracx-200为实验室和工厂楼层的生产率提供了数千种定制分析。Bruker的新的通用扫描干涉测量(USI)测量模式提供了全自动的、自感知的表面纹理、优化的信号处理，同时提供了对正在分析的表面形貌的最精确和真实的计算。该系统的新相机提供的更大的视场和新的机动XY级提供的灵活性使更多的灵活性和更高的吞吐量范围广泛的样品和部件。硬件和软件结合在一起，提供流线型的最高光学性能，完全超过可比的计量能力。