赛默飞世尔 Neoma™ MS/MS MC-ICP-MS质谱仪

产品介绍：

分离出同量异序干扰，可在同位素研究中达到新的精度和准确度。在某些情况下，即使使用最 好的 ICP-MS 仪器，最 高分辨率也依然不够高，无法解决同量异序干扰。Thermo Scientific™ Neoma™ MS/MS MC-ICP-MS 可解决上述问题。

Neoma MS/MS MC-ICP-MS 是首 款专用碰撞/反应池 MC-ICP-MS，具有独特的池前质量过滤技术，能分离出同量序干扰并在激光剥蚀 MC-ICP-MS 及其他领域开辟出新方法。

模式：

• 全传输模式：高精度同位素分析，无需使用碰撞/反应池技术。此外，池前质量过滤器可用于去除基质元素，进而提高灵敏度并提高丰度灵敏度。

•  碰撞/反应池模式：对于同量异序干扰显著的同位素系统，池前质量过滤器专 利技术可去除可能在 CRC 中引起二次反应的基质元素。

应用范围：

• 原位 Rb-Sr 定年：通过结合池前质量过滤器、碰撞/反应池和多接收器检测器阵列，对地质样本定年可达到极高的精度。

• 无干扰 Ti 同位素分析：池前质量过滤器可用于去除分子和双电荷干扰，碰撞/反应池可用于去除同量异序干扰。

• 生物碳酸盐的原位硼同位素分析：通过使用池前质量过滤器消除来自 10B 上分散 Ca4+ 离子的干扰，使 LA-MC-ICP-MS 分析达到极其高的准确度。

• K 同位素分析：40Ar+ 的干扰可能会影响 K 同位素分析的精度和准确度。通过以下任一方法消除 40Ar+ 的干扰：(1) 借助 Neoma MC-ICP-MS 的超高分辨率 (XHR)，或 (2) 样品量较小时，在碰撞/反应池中使用 H2 和 He 来中和 40Ar 和 40ArH。 

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技术选项：

• 通过 24 放大器阵列扩大选择：离子电流放大器安装在双重屏蔽的真空恒温壳体中，温度稳定性为 0.01˚C/小时，以确保基线和增益稳定性。

•  增强型可变检测器阵列：用不同分散的离子束对所有 11 个杯子进行精确校准，确保灵活性，以涵盖从 Li 到 U （低分辨率或高分辨率）的同位素应用范围，且不影响质谱仪的固有散射性。

•  Jet 接口：Jet 接口与去溶雾化系统系统相结合，灵敏度比标准湿等离子体高 10 至 20 倍。

•  多种分辨率可选：3 种不同的质量分辨率，可极大程度地提高分析灵敏度，同时亦可解决干扰问题。

•  检测器类型的灵活性：灵活的三检测器系统，涵盖信号强度范围 (1 cps – 6 Gcps) 内 >9 个数量级。中 央通道配有双模式检测器，可从法拉第杯切换到 SEM 离子计数器，并且使用专有的继电器矩阵，可通过软件将任一放大器分配给任何法拉第杯。

•  1013 Ω 放大器技术：极低的噪声特性并确保快速响应时间。法拉第杯的优点可在低信号强度 (30 kcps – 3 Mcps) 下实现，提供接近计数统计极限的外部精度。