激光剥蚀进样系统

美国ASI J200 LA飞秒激光剥蚀进样系统激光进样系统与等离子体质谱连用，组成LA-ICP-MS系统，对样品的元素组成、元素分布进行检测。可与市面上的普通四级杆质谱仪、飞行时间质谱仪和多接收质谱仪等常见质谱仪联用。

J200飞秒激光剥蚀进样系统（LA）术可靠性提升到一个新高度，可应用于矿物元素定量分析、锆石U-Pb定年、矿物熔体和流体包裹体分析、微区同位素分析和定年技术研究等地质研究领域，并在所有采样点上实现一致的激光剥蚀，这一创新的传感器特性是由应用光谱公司科学团队研发的一项技术，具备三种照明模式来提高图像质量和对比度：扩散式LED光源，透射光和同轴反射光，光的强度和颜色可控。

J200飞秒激光剥蚀进样系统是LA-ICP-MS技术向高精度、高准确度、高灵敏度水平发展的重大突破，为了准确定量的分析元素和同位素，需要高精度的、与测量样品相匹配的标准物质，ICP源的颗粒能完全被消解