X射线吸收和特征谱实验仪
台式X射线吸收精细结构谱仪（XAFS/XES）
桌面式X射线吸收精细结构谱仪(XAFS)|TableXAFS|安徽创谱
Quantum Design XES150 台式X射线吸收精细结构谱仪 XAFS
Quantum Design XAFS300 台式X射线吸收精细结构谱仪 XAFS
实验内容
1．了解X射线与物质的相互作用，及其在物质中的吸收规律；
2．测量不同能量的X射线在金属铝中的吸收系数；
3．了解元素的特征X射线能量与原子序数的关系。
仪器组成
模拟探测器箱、模拟放射源、模拟金属靶、模拟吸收片、多功能数字多道 用户自备电脑一台(Win7以上 64位系统)
报价：￥50000
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DPLS-4000 F是DPLS-4000的薄膜专用扩展型号，使用独有的反符合设计与机器学习数据处理技术，可以测量微米级别厚度薄膜的正电子湮没寿命，对于制备困难、物质量少的纳米材料是一种理想的无损表征手段。
DPLS-4000 Max是DPLS-4000的高计数率扩展型号，使用四探头设计，将计数率提高了一个数量级。单个样品的测试时间缩短到10分钟左右，适用于快速测样与大批量测样和快速物相变化的场景。
营业执照已审核
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