PSPB10000脉冲慢正电子束流是一种可精确调制时间、能量和位置的正电子束流,通过电磁线圈和电场的控制,可以实现对材料近表面和界面的结构形态进行分层扫描,可以实现材料中微观缺陷态的分层测量,从而对材料表面与界面进行结构表征。

PSPB10000产品结构
从放射源产生的正电子首先通过慢化体能量降低到热能,然后通过聚束线圈实现对位置的调控,通过斩波器实现对时间的调控,通过加速电极实现对能量的调控。经过PSPB10000调制过的正电子可以停留在样品的特定深度。
产品特色
表面界面测量:可以实现对材料表面和界面的微观结构表征,通过连续改变正电子入射能量进行测量可以得到从表面到内部的材料微观结构变化表征。
正电子科学平台:正电子束流可以作为正电子科学平台,通过搭配不同的样品环境与探测单元,实现对样品多条件、多参数的全方位测量表征。
报价:¥1000000
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DPLS-4000 F是DPLS-4000的薄膜专用扩展型号,使用独有的反符合设计与机器学习数据处理技术,可以测量微米级别厚度薄膜的正电子湮没寿命,对于制备困难、物质量少的纳米材料是一种理想的无损表征手段。
DPLS-4000 Max是DPLS-4000的高计数率扩展型号,使用四探头设计,将计数率提高了一个数量级。单个样品的测试时间缩短到10分钟左右,适用于快速测样与大批量测样和快速物相变化的场景。