本插件是2 个单位宽度的NIM 插件,它用于慢符合和延时符合或反符合测量系统中,进行低本底及放射源的活度测量。耗电不大于1.1W。

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DPLS-4000 F是DPLS-4000的薄膜专用扩展型号,使用独有的反符合设计与机器学习数据处理技术,可以测量微米级别厚度薄膜的正电子湮没寿命,对于制备困难、物质量少的纳米材料是一种理想的无损表征手段。
DPLS-4000 Max是DPLS-4000的高计数率扩展型号,使用四探头设计,将计数率提高了一个数量级。单个样品的测试时间缩短到10分钟左右,适用于快速测样与大批量测样和快速物相变化的场景。