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DPLS-4000 F是DPLS-4000的薄膜专用扩展型号，使用独有的反符合设计与机器学习数据处理技术，可以测量微米级别厚度薄膜的正电子湮没寿命，对于制备困难、物质量少的纳米材料是一种理想的无损表征手段。
DPLS-4000 Max是DPLS-4000的高计数率扩展型号，使用四探头设计，将计数率提高了一个数量级。单个样品的测试时间缩短到10分钟左右，适用于快速测样与大批量测样和快速物相变化的场景。
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