半导体参数分析仪
测试系统特点
IV曲线显示/局部放大，程序保护电流/电压,以防损坏，品种繁多的曲线，可编程的数据点对应，增加线性或对数，可编程延迟时间可减少器件发热，保存和重新导入入口程序，保存和导入之前捕获图象，曲线数据直接导入到EXCEL，曲线程序和数据自动存入EXCEL，程序保护电流/电压,以防损坏，测试范围广（19总大类，27分类）
系统规格及技术指标
主极电压： 1mV-2000V
电压分辨率： 1mV
主极电流： 0.1nA-50A
扩展电流： 100A
电流分辨率： 0.1nA
测试精度： 0.2%+2LSB
测试速度： 0.5mS/参数
工作温度： 25℃--40℃
工作湿度： 45%--80%
贮存湿度： 10%--90%
工作电压： 200v--240v
电源频率： 47HZ--63HZ
通信接口： RS232 USB
系统功耗： <150w
设备尺寸： 450mm×570mm×280mm
质 量： 35KG
报价：面议
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报价：面议
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报价：面议
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报价：面议
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陕西天士立科技有限公司/STD2000/半导体参数测试仪系统可以测试Si,SiC,GaN & IGBT、Mosfet、Diode、BJT、SCR等电子元器件的静态直流参数和IV曲线（如击穿电压V(BR)CES/V(BR)DSs、漏电流ICEs/lGEs/IGSs/lDSs、阈值电压/VGE(th)、开启电压/VCE(on)、跨导/Gfe/Gfs、压降/Vf、导通内阻Rds(on)）。测试种类覆盖 7 大类别26分类，包括“二极管类”“三极管类（如BJT、MOSFET、IGBT）”“保护类器件”“稳压集成类”“继电器类”“光耦类”“传感监测类”等品类的繁多的电子元器件高压源标配1400V（选配2KV），高流源标配100A（选配40A,200A,500A）控制极/栅极电压40V，栅极电流100mA分辨率至1.5uV / 1.5pA，精度可至0.1%
1、STD2000/半导体分立器件静态参数测试仪系统 2、一机多用：一台设备可以覆盖常见的很多元器件，如Si,SiC,GaN & IGBT、Mosfet、Diode、BJT、SCR、OC/光耦等 3、分辨率高：Z高至1.5uV / 1.5pA， 4、精度有保证：0.1% / 16 位 ADC、1M/S 采样率 5、测试参数全面：静态参数+IV曲线（如击穿电压V(BR)CES/V(BR)DSs、漏电流ICEs/lGEs/IGSs/lDSs、阈值电压/VGE(th)、开启电压/VCE(on)、跨导/Gfe/Gfs、压降/Vf、内阻Rds(on)）/6、高压源：标配1400V 选配2KV/7、高流源：标配100A 选配40A,200A,500A 8、栅极电压：40V 9、栅极电流：100mA
华科智源功率器件测试仪，测试二极管 、IGBT，MOS管，SIC器件静态参数，并生产器件传输曲线和转移曲线，测试1600A，5000V以下的各种功率器件，广泛应用于器件设计，封装测试，轨道交通，电动汽车 ，风力发电，变频器，焊机等行业的IGBT来料选型和失效分析。
华科智源功率半导体参数测试仪，测试二极管 、IGBT，MOS管，SIC器件静态参数，并生产器件传输曲线和转移曲线，测试1600A，5000V以下的各种功率器件，广泛应用于器件设计，封装测试，轨道交通，电动汽车 ，风力发电，变频器，焊机等行业的IGBT来料选型和失效分析。
Agilent4156C/安捷伦4156C半导体参数分析仪 Agilent 4155C 半导体参数分析仪是用于高级器件表征的精确实验室台式解决方案。Agilent 41501B 扩展器将您的功能扩展到 1A/200V，并在 Agilent 4155C 上添加了一个低噪声接地单元和双脉冲发生器。
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Agilent/安捷伦4155C 半导体参数分析仪 描述 Keysight 4155C 半导体参数分析仪是一款经济gao效、精确、适用于先进器件表征的实验室用台式解决方案。41501B Expander 可将仪器的测量范围扩展至 1A/200V，并为 4155C 添加低噪声接地单元和双脉冲发生器。
Agilent/安捷伦4155C半导体参数分析仪 安捷伦4155C半导体参数分析仪是一款经济GX、适用于先进器件表征的实验室用台式解决方案。41501B Expander 可将仪器的测量范围扩展至 1A/200V，并为4155C添加低噪声接地单元和双脉冲发生器。
营业执照已审核
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沪公网安备 31011502008050号