日立L型 FIB-SEM-Ar 三束系统 NX9000
日立高分辨型双束系统 NX5000
TM4000PlusIII/TM4000III台式扫描电镜
日立扫描探针显微镜控制器
扫描电镜清洗设备ZONESEMⅡ
产品简介
日立高分辨型双束系统 NX5000

NX5000新型高分辨FIB-SEM双束系统采用冷场发射电子枪和全新的Aquila α镜筒,具有高分辨的观察能力;同时大束流的离子枪和实时观察功能使其具有超高的加工效率。特的第三束(Ar)加工可以避免样品损伤,为超薄样品和复杂的制备提供了新的解决方案,可以满足纳米材料、半导体材料、生物材料等多种样品的快速、无损、精细加工。
主要特点:
1. 高分辨冷场发射电子枪,实现高分辨观察(0.7nm@15kV)
2. 全新的Aquila α镜筒和多探测器实现不同观察目的
3. 大束流(100nA)、高稳定性离子枪实现快速加工
4. 实时观察、多探针系统和7轴样品台等技术有效防止窗帘效应
5. 第三束Ar的引入实现无损和超薄样品的加工
6. 多种沉积气体可选
7. 全自动TEM样品制备
应用领域:
纳米材料微加工
半导体及电子元器件加工
生命科学
报价:面议
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报价:¥2000000
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F-2710通过采用高亮度氙灯和优化信号处理系统,实现更高的灵敏度。
- 系统模块升级:提高灵敏度 - 柱塞自动清洗功能 :防止柱塞表面盐的析出 - 分光器特制盖板和风量可调的风扇的组合:缩短等的预热稳定时间(DAD检测器) - 兼做供电模块的组织器:可放入多个溶剂瓶
EA1280 XRF分析仪专为RoHS(有害物质限制)设计,为需要遵守本指令的企业提供一致的结果。通过对有害物质的简单快速的测量,您可以确保能够满足环境法规的要求。