球差校正透射电镜HF5000

日立 NX9000 直角型FIB-SEM系统

日本电子 JEM-120i 透射电子显微镜 TEM

国仪量子 TH-F120 场发射透射电子显微镜 TEM

赛默飞世尔 透射电子显微镜 Talos F200S G2 TEM

TEM显微镜用于高生产率、高分辨率的TEM和具有化学定量的STEM表征。

赛默飞世尔 透射电子显微镜 Talos F200X G2 TEM

适用于高分辨率 TEM 和 STEM 以及准确化学定量的 TEM 显微镜。

赛默飞世尔 透射电子显微镜 Talos F200C TEM

用于光束敏感材料的高对比度成像的TEM和STEM分析。

赛默飞（原FEI）Talos L120C TEM透射电子显微镜

The Talos L120C TEM 的平台式设计具备了模块多功能化，ZG的稳定性及操作的便捷性，从而提供可靠的ZJ成像性能。

HD-2700球差校正扫描透射电子显微镜

专用扫描透射显微镜HD-2700，配备了与德国CEOS GmbH公司（总经理Max Haider先生）共同开发的球差校正仪，显著提高了扫描透射电子显微镜的性能，更适合高级纳米技术研究。由于球差校正系统校正了限制电子显微镜的性能的球差，使其与标准型号显微镜相比，分辨率提高了1.5倍，同时，探针电流提高了10倍。