分享 收藏

荧光分布成像系统

品牌：日立
产地：亚洲日本
供应商报价：面议

江苏米立特科学仪器有限公司更新时间：2021-10-21 08:23:22

销售范围售全国

入驻年限第6年

营业执照已审核

同类产品分子荧光光谱(5件)

立即扫码咨询

联系方式：400-822-6768

联系我们时请说明在仪器网（www.yiqi.com）上看到的!

扫码分享

为您推荐

详细介绍

产品创新点
上市时间：2019年10月
创新点主要有两个方面：硬件方面：全球首chuang将将荧光分光度计与CMOS相机结合在一起，能够同时观察样品光谱和图像的技术。软件方面：运用了智能光谱算法，可以获取样品任意区域的光谱信息。常规的荧光分光光度计测得的是样品表面信息平均化的信号，得到的是一条荧光光谱，这个新的系统能够对样品表面进行分区，从而获得不同区域的光谱信号，使得光谱信息细致化了。

产品简介

1. 荧光分布成像系统（EEM View）简介

作为荧光分光光度计的配件系统，这是全球首chuang将相机与荧光分光光度计的wan美结合，融合了智能算法的先进技术。能够同时获取样品图像和光谱信息。

新型荧光分布成像系统可安装到F-7100荧光分光光度计的样品仓内。入射光经过积分球的漫反射后均匀照射到样品，利用F-7100标配的荧光检测器可以获得样品荧光光谱，结合积分球下方的CMOS相机可获得样品图像，并利用独特的AI光谱图像处理算法，可以同时得到反射和荧光图像。

2. 荧光分布成像系统特点：
①测定样品的光谱数据（反射光、荧光特性）
②在不同光源条件下（白光和单色光）拍摄图像（区域：Φ20mm、空间分辨率：0.1 mm左右、波长范围：360-700nm）
③利用自主研发的分析系统1)，分开显示荧光图像和反射图像
④根据图像可获得不同区域的光谱信息（荧光光谱、反射光谱）

国立信息学研究所佐藤IMARI 教授?郑银强副教授共同研究成果
荧光分布成像系统软件分析（EEM View Analysis）界面(样品：LED电路板)