熔喷法是直接由聚合物树脂制造非织造 布的一步法加工工艺(如图1所示)。它是非 织造布生产中较为新型的一种方法,其产量和在非织造布中所占比例逐年上升。因熔喷纤网为超细纤维,提供了大的表面积,因此被广泛地应用千过滤领域。空气过滤的效率主要受机械机理(即拦截、碰撞和扩散)以及静电机理(即静电吸引力)的影响。从机械机理说,空气的过滤效率取决千纤维的直径和织物的密度,微细纤维因其可构成大的表面积, 因此应有较商过滤效率。然而由千纤维细,孔隙尺寸小,透气率也相应降低。驻极体因静电 力的作用可提高过滤效率,同时又不会影响透气性。驻极体可通过极化或植入电介质而 得到。本文将介绍静电植入熔喷非织造布以生产驻极体的方法和机理及利用驻极体作空气过滤介质来提高过滤效率的有关情况。

熔喷法是一种生产微纤网的工艺。聚合物经料斗喂入挤压机,在挤压下聚合物熔融并向前移动。在一台齿轮计量泵的控制下,聚合物熔体经喷丝板喷出,喷出的熔融纤维由两股亚音速的热空气流拉伸,当纤维落在收集器上时形成纤网。熔喷纤网的纤维直径范围为2~5um,孔隙率为80~90%。由于熔喷布是微纤结构,具有大的表面积,能有效地捕集微细粒子,因此熔喷布的主要用途之一是空气过滤。通过将静电植入纤维内以借助电力吸引过滤粒子,可使熔喷布获得更大的过滤效率,该技术为熔喷布静电充电的技术。充电是在熔喷布生产过程的不同阶段完成的。
通过熔喷法制成的熔喷布是kou罩的核心材料,kou罩的性能主要由熔喷布决定。那么,一般来说,熔喷布检测什么项目呢?
熔喷布的检测主要在于提高熔喷布的过滤效率,一方面可以从物理方面考虑,降低纤维直径(纤维更细)提高纤维密度(孔隙更小);另一方面就是给熔喷布加上静电,具有更强的静电吸附能力,因为通常带病毒的颗粒物是带静电的。通过静电过滤并吸附带病毒的颗粒,因此熔喷布的静电检测是十分重要的一环。
kou罩的结果如下图所示,S指纺粘层,一般起支撑作用,M指熔喷层,置于两层S层之间,经过驻极处理后,熔喷层具有了静电吸附功能,可以吸附带病毒的颗粒,从而提高熔喷布的过滤效率。

或许有些人认为一层熔喷布过滤效率不够,可以做成两层甚至三层,但是这样成品基本就是翻倍了,而且还要注意kou罩还有通气阻力的要求,层数越多,通气阻力也就越大,也就是呼吸更加困难,可能超出标准的限值要求。
所以,kou罩生产前一定要对熔喷布进行核心指标过滤效率进行检测,确保熔喷布质量达标后再生产,不要等到生产kou罩后再来检测,将可能造成非常大的损失。北京华测生产的熔喷布静电电荷测试仪通过静电电荷检测可以准确的检验熔喷布的质量,从而使企业在生产kou罩、防护服等医用材料时通过检测实现产品品质控制,降低不必要的损失。
产品名称:熔喷布带电量测试仪
产品型号:Huace系列
品牌:北京华测
产品简介
华测Huace系列测试仪结合了华测高灵敏度电压、电流测量仪器的技术优势以及更快的速度和更高的耐用性。这款经济型的仪器具有手动电荷量程和快速自动量程功能,可以测量±0.1pC到正负士20uC的电荷,其测量速度达到500读数/秒。华测huace系列电荷量表具有极高的分辨率与高灵敏度,使它特别适合于低电荷测试场合,而它20uC的量程使它可以测量较高的电荷。
报价:¥5000
已咨询48次前沿材料检测试设备
报价:¥20000
已咨询603次电荷量表
报价:¥10000
已咨询1928次121A1-热刺激电流测量仪
报价:¥8767
已咨询832次表面体积电阻率测试仪
报价:面议
已咨询1147次行业专用仪器仪表
报价:面议
已咨询846次行业专用仪器仪表
报价:¥4800
已咨询383次121A1-热刺激电流测量仪
报价:¥10000
已咨询1885次121A1-热刺激电流测量仪
报价:面议
已咨询408次行业专用仪器仪表
表面电位衰减测试系统(评估介质材料表面电荷动态衰减行为及陷阱能级分布) 表面电位衰减测试系统是一款面向材料电学特性研究的高精度、多功能分析设备,专为评估介质材料表面电荷动态衰减行为及陷阱能级分布而设计
织物摩擦带电电荷量测试仪,主要用于测试防静电服的带电电荷量,设备主要由法拉第筒、静电电位计和滚筒摩擦机组成。备注:静电电位计通常也被称为静电电量表主要用于显示防静电服及防静电面料等纺织品的电荷量。
将防静电服放入滚筒摩擦机后,经过滚简摩擦机摩擦 15min 后的防静电服投入法拉第筒内,通过静电电位计测量防静电服的带电电荷量。
HCHV-2000 是一款风冷高压脉冲发生器。该设备针对高阻抗容性负载进行了优化,非常适合用于驱动提取栅极和偏转板,以实现飞行时间质谱仪和加速器中粒子束的静电调制。
测量电容器在不同温度下的关键参数(如电容量(C)、损耗因子(D)和阻抗(Z)等参数值),从而评估其温度特性。该系统通常具有高精度、高稳定性和高可靠性的特点,能够适用于各种类。
绝缘电阻劣化(离子迁移)评估系统是一种试验设备,它通过在印刷电路板上施加固定的直流电压,并经过长时间的测试(1~1000小时可按需定制),观察线路是否有瞬间短路的现象发生,并记录电阻值的变化状况。
绝缘电阻劣化(离子迁移)评估系统,评估绝缘材料的劣化程度和离子迁移现象.
半导体封装材料R-T测试,测试类型: R-T ,C-V, I-V,R-I,Cp-D,ε测试,搭配仪器:源表、高阻计、直流低电阻测试仪、阻抗分析仪、半导体参数分析仪。